作為儀器行業(yè)的內(nèi)容編輯,深知實(shí)驗(yàn)室、科研、檢測(cè)及工業(yè)等領(lǐng)域從業(yè)者對(duì)于精密分析儀器的需求。今天,我們聚焦于中階梯光柵光譜儀,深入探討其基本原理,旨在為專(zhuān)業(yè)人士提供更具價(jià)值的參考。
傳統(tǒng)的光柵光譜儀多采用全息光柵或刻劃光柵,其衍射級(jí)次通常是連續(xù)的。而中階梯光柵(Echelle grating)則是一種特殊的衍射光柵,其衍射面具有較低的刻線(xiàn)密度(通常為 30-100 l/mm)和較高的衍射級(jí)次(通常為 20-100 級(jí))。這一設(shè)計(jì)上的“反其道而行”是其實(shí)現(xiàn)高分辨率的關(guān)鍵。
中階梯光柵光譜儀的工作原理是衍射與干涉的協(xié)同作用。當(dāng)光線(xiàn)入射到中階梯光柵上時(shí),會(huì)同時(shí)發(fā)生衍射和干涉。
中階梯光柵的特殊結(jié)構(gòu)使得其在高衍射級(jí)次下工作,其衍射角 $\theta_m$ 可由以下公式近似描述:
$$d (\sin \alpha + \sin \theta_m) = m \lambda$$
其中:
由于 $m$ 是一個(gè)很大的整數(shù),即使 $\sin \alpha + \sin \theta_m$ 的變化很小,對(duì)應(yīng)的 $\lambda$ 也能產(chǎn)生顯著的變化,這直接體現(xiàn)在其高分辨率上。
為了將高衍射級(jí)次產(chǎn)生的密集光譜線(xiàn)有效分離,中階梯光柵光譜儀通常采用“交叉色散”(Cross-dispersion)技術(shù)。這一技術(shù)通過(guò)引入一個(gè)二次色散元件(通常是一個(gè)低級(jí)次的全息光柵或棱鏡),與中階梯光柵的色散方向相互垂直。
這種二維的分光方式,將高衍射級(jí)次的光譜“展開(kāi)”到一個(gè)二維平面上。在這一二維光譜面上,不同波長(zhǎng)和不同衍射級(jí)次的光譜線(xiàn)被清晰地分隔開(kāi)。例如,某個(gè)特定的波長(zhǎng) $\lambda1$ 可能在 $m=50$ 級(jí)次產(chǎn)生,而另一個(gè)波長(zhǎng) $\lambda2$ 可能在 $m=51$ 級(jí)次產(chǎn)生。通過(guò)交叉色散,它們?cè)诖怪狈较蛏嫌辛嗣黠@的位移,從而避免了同級(jí)次光譜線(xiàn)間的重疊,并使得不同級(jí)次的光譜線(xiàn)也能夠被區(qū)分。
中階梯光柵光譜儀憑借其高分辨率、高光譜效率和緊湊的光學(xué)設(shè)計(jì),在諸多領(lǐng)域展現(xiàn)出強(qiáng)大的分析能力:
典型應(yīng)用場(chǎng)景:
在實(shí)際應(yīng)用中,中階梯光柵光譜儀的性能參數(shù)至關(guān)重要。例如,某款高性能中階梯光柵光譜儀可能具備以下指標(biāo):
| 參數(shù)項(xiàng) | 數(shù)值范圍 | 說(shuō)明 |
|---|---|---|
| 光譜范圍 | 200 nm - 800 nm | 可覆蓋紫外到可見(jiàn)光范圍 |
| 分辨率 (FWHM) | < 0.02 nm | 在特定波長(zhǎng)下的半高全寬,代表分離能力 |
| 波長(zhǎng)精度 | ± 0.005 nm | 測(cè)量波長(zhǎng)的準(zhǔn)確性 |
| 雜散光抑制 | > 10?? | 干擾信號(hào)被抑制的程度 |
| 衍射級(jí)次 | 25 - 120 級(jí) | 高級(jí)次是實(shí)現(xiàn)高分辨率的基礎(chǔ) |
中階梯光柵光譜儀以其獨(dú)特的光學(xué)設(shè)計(jì)和精密的解析能力,已成為現(xiàn)代科學(xué)研究和工業(yè)分析不可或缺的重要工具。理解其基本原理,有助于我們更好地選擇和應(yīng)用這類(lèi)先進(jìn)的儀器。
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