BeNano 180 Zeta Max沉降法檢測多粒徑組分體系

BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位分析儀在0°角設置一個PD檢測器，通過檢測透射光的光強隨時間的變化，檢測沉降樣品的粒度和粒度分布信息。沉降法粒度測試的適用范圍在幾微米至幾十微米，可有效彌補動態光散射對大顆粒檢測的限制。

在這篇應用報告中，使用丹東百特儀器公司的BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位分析儀檢測了多種粒徑混合的樣品的粒度信息。

原理

BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位分析儀基于透射光路檢測樣品的透射光強度，然后基于斯托克斯方程

計算體系的粒徑和粒徑分布信息，測試需要對應溫度下分散介質的折射率、密度和粘度，對應溫度下顆粒物的折射率和密度，以及樣品體積。

實驗

實驗采用已知粒徑的多個PMMA球進行，PMMA球粒徑分別為5.4μm、9.5μm、14.9μm和18.5μm，將樣品混合配置成混合液，混合的具體信息如下：

   將樣品按一定比例混合，放入光程為10mm的方形玻璃樣品池中進行測試。測試前恒溫120秒，使樣品達到平衡溫度，然后用移液槍將樣品混合均勻，開始收集信號。

結果分析和結論

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