中科微納 多功能極片電阻測量系統ZKJPD-I應用領域

中科微納的多功能極片電阻測量系統ZKJPD-I，是面向實驗室、科研機構與工業現場質控的高性價比解決方案，專為極片級別電阻的快速、測量而設計。該系統以穩定的低漂移傳感單元、靈活的探針架構和友好的軟件支撐為核心，能夠在薄膜電阻、導電涂層以及電極材料的研發與質量控制場景中提供一致、可追溯的數據。以下內容以產品知識普及為主，全面覆蓋參數、型號、特點，并附場景化FAQ，便于快速落地使用。

參數與型號要點

• 主要型號與定位
• ZKJPD-I 基本型：提供四探針低阻測量能力，適合日常研發與批量測試場景。
• 可擴展模組：在基本型基礎上支持探針組、夾具、數據接口的靈活擴展，滿足更高通量需求。
• 測量參數
• 流量范圍（測量量程）：0.5 μΩ 至 10 Ω，覆蓋常見極片電阻等級。
• 分辨率與準確度：分辨率可調，低量程下達到 0.1 μΩ，綜合不確定度隨量程分檔給出評定。
• 測試電流/電壓：1 μA – 10 mA（可選自動優化電流，減小熱漂移對結果的影響）。
• 測量模式：四探針測量、惠斯登方法切換，支持直流穩定測量與脈沖/撥動干擾抑制。
• 軟件支持的擬合與分析：內置線性/非線性擬合、溫度補償、表觀電阻與實際片阻的去卷積分析。
• 樣品與夾具
• 樣品尺寸范圍：最小約20 mm × 20 mm，最大約300 mm × 300 mm，厚度適配0.05–0.8 mm。
• 夾具類型：可更換探針陣列、可選金屬/碳纖維夾持件，兼容不同極片基材。
• 接口與兼容性
• 數據接口：USB 3.0、以太網（1G/LAN），選配 RS-232，便于與實驗站、MES/LIMS對接。
• 軟件平臺：自研ZKSoft Lab，提供數據采集、趨勢分析、報告導出和自動化腳本接口。
• 電源與尺寸
• 電源規格：100–240 VAC，50/60 Hz，內置穩壓與短路保護。
• 外形與重量：約420 × 320 × 150 mm，重量在7.5 kg左右，便于車間或臺面安裝。
• 環境與認證
• 工作環境溫度：-10 °C 至 50 °C，濕度在20–80%RH（非結露）。
• 安全與合規：具備過流保護、掉電記憶和數據保存方案，符合常見實驗室儀器標準。

特點與優勢

• 高精度低漂移傳感器陣列
• 采用低溫漂和低接觸電阻誤差的傳感單元，適用于極薄極片的微小阻值變化。
• 四探針測量與自動化校準
• 四探針結構抑制引線電阻與接觸電阻影響，提供更接近材料本征阻抗的測量結果；內置自動校準與自診斷功能，縮短調試時間。
• 靈活的測量模式與快速切換
• 支持多種電極幾何配置的快速切換，能夠在同一批樣品上完成不同測量通道的對比分析，提升通量。
• 強大的數據管理與報告能力
• ZKSoft Lab軟件實現一鍵數據導出（CSV、Excel、PDF），并可配置模板生成穩定的實驗報告，便于追溯與法規合規。
• 易用性與后續擴展
• 模塊化設計便于現場增配探針、夾具與接口；提供在線固件更新和本地化技術支持，降低升級成本。

應用領域場景

• 電池極片研發與制造質控
• 對正負極極片進行電阻分布、均勻性與界面傳導性分析，支撐材料配方優化與涂布工藝改進。
• 導電涂層與薄膜材料評估
• 如碳涂層、金屬薄膜、導電聚合物涂層等，量化表面電阻、橫向電阻分布及均勻性。
• 半導體薄膜與傳感材料表征
• 適用于低阻層與電極-介質界面電阻研究，幫助理解界面影響與材料層級結構。
• 工業質量控制與產線在線檢測
• 快速抽檢生產批次的電阻一致性，配合自動化測試工位實現靈活的工序監控。

場景化FAQ

• ZKJPD-I 適用哪些極片材料？
• 適用于金屬基極片、碳基涂層極片、導電聚合物涂層及混合基材的低阻測量，且對薄片厚度在0.05–0.8 mm范圍內的樣品表現穩定。
• 如何執行四探針測量？步驟要點有哪些？
• 將極片樣品安放于夾具上，選擇四探針模式，設定量程與電流，啟動自動校準后開始數據采集，按樣品分區記錄數據并進行比對分析。
• 軟件能導出哪些格式的報告？
• CSV、Excel、PDF三種格式；支持自定義字段、單位換算和批量導出，便于上機對接與實驗記錄系統。
• 探針頭需要多久更換一次？更換流程是怎樣的？
• 視使用強度與樣品材質而定，一般在探針磨損或接觸不良時更換；廠家提供標準化更換流程與備件清單，確保快速恢復測量通道。
• 能在高溫或潮濕環境中工作嗎？
• 設備工作環境建議在-10 °C 至 50 °C、非結露濕度范圍內；對于極端環境，需使用配套防護罩或在溫控區域內測試。
• 與MES/LIMS等系統的對接是否支持？
• 支持通用數據接口（USB/Ethernet），可通過中間件或API實現與LIMS/MES的數據流對接，便于質量管理與追溯。
• 樣品厚度對測量結果有多大影響？如何抵消？
• 極片厚度主要影響局部熱效應與接觸面積；系統提供厚度補償算法與擬合模型，結合樣品幾何信息進行結果歸一化。
• 快速測量的吞吐量大約是多少？是否支持并行測試？
• 在標準模式下單樣本測量可在數十秒內完成，若配置多路探針擴展模組，理論上可實現并行測試以提升產線通量。
• 需要哪些配套夾具？廠家提供哪些選件？
• 常用夾具包括四探針陣列夾具、碳/金屬材質夾持件、可調夾具和邊緣防護件；擴展模組方面可選高分辨率探針、不同樣品夾具幾何形狀等。
• 維護與保養要點是什么？
• 建議定期清潔探針、檢查連接端口、更新固件、備份數據；在高溫或粉塵環境中使用防護罩，減少污染與腐蝕。

總結 ZKJPD-I 將高精度低阻測量能力、靈活的探針與夾具體系、強大的數據處理能力融合在一個緊湊的平臺上，面向實驗室與工業現場的極片電阻測量需求提供統一、可追溯的解決方案。無論是材料研究、元件開發，還是產線質量控制，該系統都能以穩定的性能和可擴展性幫助團隊提升測試可靠性、加速研發迭代，并通過完備的數據輸出與報告功能實現高效的數據管理與合規性記錄。如需進一步定制化配置、現場演示或技術對接支持，可以與中科微納銷售與技術團隊聯系，獲取針對特定極片材料與工藝條件的落地方案。