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• 2026-02-03 08:00發布了技術文章

  解決方案 | Sensofar 3D光學輪廓儀：晶圓膠與MEMS器件的精密測量利器

  在半導體制造和微機電系統（MEMS）領域，精確的表面形貌測量是確保產品質量的關鍵。

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• 2026-01-30 09:44發布了行業資訊

  澤攸科技JS系列臺階儀助力突破！復旦大學團隊實現錫基鈣鈦礦晶體管重大突破

  在“十四五”規劃與2035年遠景目標指引下，我國半導體產業正加速攻克關鍵核心技術。

  掃描電鏡 澤攸 原位分析 24人看過

• 2026-01-29 09:00發布了技術文章

  行業資訊 | 澤攸科技JS系列臺階儀助力突破！復旦大學團隊實現錫基鈣鈦礦晶體管重大突破

  在“十四五”規劃與2035年遠景目標指引下，我國半導體產業正加速攻克關鍵核心技術。

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• 2026-01-27 09:12發布了行業資訊

  Sensofar S neox光學輪廓儀：引領CPO制造進入納米級精度時代

  在人工智能與高性能計算快速發展的今天，共封裝光學器件（CPO）技術正成為突破數據傳輸瓶頸的關鍵。

  sensofar 三維共聚焦白光干涉儀 三維輪廓儀 132人看過

• 2026-01-27 08:00發布了技術文章

  產品推薦 | Sensofar S neox光學輪廓儀：引領CPO制造進入納米級精度時代

  在人工智能與高性能計算快速發展的今天，共封裝光學器件（CPO）技術正成為突破數據傳輸瓶頸的關鍵。

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• 2026-01-22 09:46發布了技術文章

  微觀世界的“火眼金睛”：澤攸科技ZEM系列掃描電鏡如何助力PZT材料突破

  在材料科學的微觀世界里，一項突破性的發現，往往始于對材料結構“見微知著”的洞察。

  掃描電鏡 原位分析 澤攸 21人看過

• 2026-01-15 08:00發布了技術文章

  解決方案 | 效率革命：SENSOFAR S lynx 2 APM如何將復雜測量轉化為一鍵任務

  在追求微觀世界精確數據的道路上，科研人員與工程師們常常陷入兩難：是追求數據的全面性，還是保證檢測的高效性？

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• 2026-01-13 08:00發布了技術文章

  案例分享 | 澤攸掃描電鏡下的“幽靈閃光”：絕緣樣品為何會“閃白光”？

  揭秘電荷積累效應，讓微觀觀測不再失真

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• 2026-01-08 08:00發布了技術文章

  產品推薦 | S neox 五軸：為刀具檢測帶來高效精準的3D測量新方案

  在精密制造領域，刀具的質量檢測直接關系到加工零件的精度和表面質量。S neox 五軸3D光學輪廓儀的出現，為刀具檢測提供了一種全新的高效測量方案。

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• 2026-01-06 09:21發布了技術文章

  突破存儲極限！澤攸原位TEM測量系統幫助科學家首次在室溫下實現極性斯格明子包的可控構建

  隨著大數據、人工智能等技術的快速發展，數據存儲需求呈現爆炸式增長，傳統存儲技術逐漸面臨密度與穩定性的雙重瓶頸。在追求更高存儲密度和更低能耗的道路上，拓撲學為新一代存儲器提供了全新思路。

  掃描電鏡 原位分析 澤攸 62人看過

• 2025-12-31 09:45發布了行業資訊

  北京儀光科技恭祝新老朋友2026年元旦快樂！

  2025年元旦放假安排通知如下：1月1日（周四）至3日（周六），放假調休，共3天。1月4日（周日）上班。

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• 2025-12-26 17:45發布了行業資訊

  市場活動 | 第三屆先進材料與智能傳感器件研討會圓滿落幕，北京儀光科技展示SENSOFAR前沿測量方案

  2025年12月19日至21日，第三屆先進材料與智能傳感器件研討會在北京成功召開。

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• 2025-12-25 08:00發布了技術文章

  解決方案 | 半導體封裝關鍵一環：SENSOFAR SNEOX如何精準測量晶圓膠厚度與形貌？

  在半導體先進封裝和晶圓鍵合工藝中，晶圓膠（Wafer Glue）發揮著至關重要的作用。

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• 2025-12-23 08:00發布了技術文章

  行業資訊 | 革新傳統！SENSOFAR共聚焦HiLo技術如何重塑光學輪廓測量？

  在精密制造和科研領域，三維表面形貌測量是質量控制與材料分析的基礎。傳統共聚焦顯微鏡雖能提供高分辨率圖像，但其依賴物理針孔的硬件設計，往往導致系統笨重、維護成本高。

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• 2025-12-18 16:08發布了技術文章

  Sensofar S neox 3D光學輪廓儀：刻蝕剖面測量的革新利器

  在半導體制造工藝中，刻蝕作為關鍵工藝環節，其精度直接決定著芯片性能的優劣。傳統測量方法在面對復雜的刻蝕剖面時往往力不從心，而Sensofar S neox 3D光學輪廓儀的出現，為這一難題帶來了突破性

  三維共聚焦白光干涉儀 sensofar 白光干涉儀 61人看過

• 2025-12-16 08:00發布了技術文章

  案例分享 | 打開芯片黑箱：澤攸原位TEM技術揭示微凸點失效的納米級真相

  在肉眼看不見的微觀世界，一場關乎芯片可靠性的精密戰斗正在上演

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