電子探針（EPMA）和激光剝蝕電感耦合質譜儀（LA-IPC-MS）目的有區別嗎？

       波長分散型 X 射線譜儀（WDS）為了滿足 X 射線衍射條件(Bragg 條件)和幾何聚 光條件，樣品上的 X 射線產生點和分光晶體之間的距離與分光晶體和 X 射線檢測器 之間的距離相等。 

       通過使分光晶體和 X 射線檢測器沿著羅蘭圓移動來檢測不同波長的 X 射線。本公司的 EPMA 采用半徑為 140mm 和 100mm 的羅蘭圓。 羅蘭圓的半徑為 140mm 的 XCE·L 形 X 射線譜儀具有分光范圍廣，波長分辨率和 P/B 比的特征，100mm 的 H 形 X 射線譜儀具有 X 射線強度高的特征，可以根據目的進行選擇。 

       下面介紹各分光器的 PET, LIF, TAP 分光晶體以及 LDE1 和 LDE2 等輕元素用分光元 件。

        一． 分光器模式圖

       二． 超輕元素用分光元件的檢出元素 list 

       LDE1 和 LDE2 由于分光范圍廣式通用性高易于使用的分光元件。LDE5H 與累積膜 (STE)相比，成功地將 N 的 x 射線靈敏度提高 30 倍。另外，LDE6H 對微量 C 和微量 B 有很好的效果。

       三． PET，LIF，TAP 分光晶體的分光范圍