TESCAN掃描電鏡應用之金屬氧化物試樣

本文由 泰思肯貿易（上海）有限公司 整理匯編

2024-09-15 06:02 1240閱讀次數

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• TESCAN掃描電鏡應用之金屬氧化物試樣

  金屬氧化物是一類重要的催化劑，在催化領域中已得到廣泛的應用，將金屬氧化物納米化后， 其催化性能更加優良。作為一種重要的材料表征手段，掃描電鏡可用于觀察金屬氧化物的表面形 貌、測量其顆粒尺寸等。[詳細]

  2024-09-15 06:02

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  地球環境的急劇變化導致全世界植物群很多物種逐漸消失。因此，對植物的嚴密監護很有必 要。孢子來自于山腳區的角苔類，是很重要的植物物種之一。每種植物都有自己特有的孢子結構，植物學家通過觀察植物孢子的結構和形貌，便可確定該植物在自然界的存在情況。[詳細]

  2024-09-18 04:19

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• TESCAN掃描電鏡應用之小鼠小腸組織表面形貌表征

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  2021-05-24 14:23

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• TESCAN電鏡應用之顆粒度分析

  用戶在使用掃描電鏡過程中，通常需要對粉末微顆粒樣品、晶相樣品、醫學組織細胞的幾何 尺寸進行測量及統計， TESCAN 的顆粒度分析軟件可以很好的解決客戶的上述應用。[詳細]

  2024-09-14 21:11

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• TESCAN掃描電鏡應用之鎳基高溫合金表面侵蝕的分析

  高溫下，鎳基高溫合金具有較高的機械強度、抗蠕阻力、良好的表面穩定性和抗腐蝕氧化能 力，被廣泛應用在航空航天、工業燃氣輪機、船用輪機工業等領域。當其暴露于腐蝕性環境中， 合金表面的微結構會發生相應的變化。電鏡配合能譜，結合 3D 分析可以對合金表面進行深入分 析，解釋引起侵蝕的原因。[詳細]

  2024-09-14 09:56

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• TESCAN電鏡應用之斷口3D掃描形貌研究

  用戶在使用掃描電鏡過程中，通常需要對粉末微顆粒樣品、晶相樣品、醫學組織細胞的幾何 掃描電鏡呈像時多采用的是二次電子或者背散射電子，獲取的圖像都是二維圖像，但是在很多時 候對于表面不平整的樣品我們需要了解它在 Z 方向上的襯度，例如斷口樣品的表面輪廓、粗糙度 或者某一特征區域的高度等等。[詳細]

  2021-05-24 14:51

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• TESCAN電鏡應用之醫學組織細胞的顆粒度分析

  用戶在使用掃描電鏡過程中，通常需要對粉末微顆粒樣品、晶相樣品、醫學組織細胞的幾何 尺寸進行測量及統計， TESCAN 的顆粒度分析軟件可以很好的解決客戶的上述應用。[詳細]

  2024-09-11 17:46

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• TESCAN電鏡應用之晶相樣品的顆粒度分析

  用戶在使用掃描電鏡過程中，通常需要對粉末微顆粒樣品、晶相樣品、醫學組織細胞的幾何 尺寸進行測量及統計， TESCAN 的顆粒度分析軟件可以很好的解決客戶的上述應用。[詳細]

  2024-09-18 04:12

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• 金屬檢測機應用之食品篇

  金屬檢測機應用之食品篇[詳細]

  2024-09-28 01:21

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• TESCAN 掃描電鏡之三維重構功能

  TESCAN 電鏡具有 3D scanning 的功能，一方面可以通過傾斜電子束，不轉動樣品，實現3D 效果，另一方面也可以通過傾斜樣品臺實現 3D 效果，電子束搖擺模式可以實現表面高低起伏較大，小工作距離，高分辨下的三維重構，樣品臺搖擺模式更適用于表面較平坦，工作距離大時的三維重構。[詳細]

  2021-05-21 14:01

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• TESCAN 掃描電鏡之光學導航聯用功能

  TESCAN 控制軟件中具有標配的 X-Positioner 和選配的 Coral 模塊，可以非常方便的實現光學導航和聯用、信息疊加等功能。接下來將分別為大家介紹這些實用的功能。[詳細]

  2024-09-18 18:12

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• TESCAN 掃描電鏡之陰極熒光（CL）技術

  電子束與樣品相互作用后會激發出一系列信號，陰極熒光（Cathodoluminescence）則是其中一種。掃描電鏡與陰極熒光技術相結合也是逐漸被廣泛應用的光譜分析技術。[詳細]

  2024-09-13 02:40

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• FIB-SEM雙束電鏡應用之生物樣品3D重構

  FIB 能夠通過連續切片提供 3D 的形貌信息，尤其在生命科學領域有著廣闊的應用前景。但是生 物樣品都是經過染色包埋處理，在掃描電鏡下很難找到需要切割的位置。TESCAN FIB-SEM 標配 光電聯用軟件 X-Positioner 能夠很方便的實現熒光顯微鏡圖片的導航，快速的確定分析區域[詳細]

  2024-09-18 18:10

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• FIB-SEM雙束電鏡應用之TOF-SIMS輕元素分析

  大型的飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）是非常昂貴的元素及同位素分析設備，現在 TESCAN 已經將小型化的 TOF-SIMS 集成于所有的 FIB-SEM 上了。[詳細]

  2024-09-28 01:08

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• TESCAN MAGNA 新一代超高分辨場發射掃描電鏡

  TESCAN MAGNA 新一代超高分辨場發射掃描電鏡[詳細]

  2025-07-24 11:22

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• 美國HysitronPI85掃描電鏡專用微納力學測試系統具體應用之——微米柱壓縮

  美國HysitronPI85掃描電鏡專用微納力學測試系統具體應用之——微米柱壓縮[詳細]

  2016-07-22 00:00

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• 掃描電鏡應用技巧之試樣的準備

  對于試樣的觀察和電鏡的維護，試樣的前處理都很重要。較好的試樣前處理，更利于試樣的觀察，可以得到較好的測試結果，同時也能夠有效減少樣品室的污染，降低電鏡光路清洗的頻率，控制維護的成本。[詳細]

  2024-09-13 02:39

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• FIB-SEM應用之鎳基合金表面涂層研究

  Inconel 713C 鎳基高溫合的表面涂層,通常使用噴涂技術制備完成,其所使用的涂層材料是商 用的純硅和純鋁粉末,兩種粉末被分散于液態醋酸戊酯的有機粘結劑內而形成噴涂涂料。噴涂完成 后,鎳基合金在氬氣保護氣氛中,經過兩道熱處理程序,其表面即形成富硅-滲鋁涂層。[詳細]

  2021-05-24 14:48

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• FIB-SEM雙束電鏡應用之生物3D EBSD分析

  EBSD 技術是近年來發展比較迅速的一項材料微觀表征技術，越來越受到材料研究工作者的 青睞。隨著 FIB-SEM 的普及，3D EBSD 技術也逐步進入材料學者的視野，但是由于以前在設計 上沒有認真的考慮 3D EBSD 使用的方便性，使得這一技術遲遲沒有得到發展。[詳細]

  2024-09-27 02:12

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• 泰克信號發生器應用之串行總線故障模擬

  泰克科技與合作伙伴基于信號發生器產品提供了串行總線模擬仿真方案，無論是通用的RS232總線，還是有特定應用場景的CAN、FLEXRAY，1553B總線， 都可以使用泰克函數發生器，配合專用的信號隔離適配器，在軟件控制下產生相應的總線信號，并模擬各種總線故障條件下的輸出，信號隔離適配器可以將函數發生器的輸出端與被測設備進行隔離，并增大信號的輸出驅動能力。 [詳細]

  2024-09-11 17:52

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