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Hitachi X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀
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本文由 上海睿測電子科技有限公司 整理匯編
2025-08-11 11:12 303閱讀次數
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Hitachi X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀
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Hitachi X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀
- Hitachi X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀[詳細]
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2025-08-11 11:12
產品樣冊
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牛津臺式鍍層測厚儀X-Strata920樣本
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2024-09-14 19:11
安裝說明
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牛津臺式鍍層測厚儀X-Strata920產品樣冊
- 牛津臺式鍍層測厚儀X-Strata920產品樣冊[詳細]
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2016-10-19 17:44
實驗操作
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X光鍍層測厚儀
- XRF2000鍍層測厚儀檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...可測單層,雙層,多層,合金鍍層,測量范圍:0.04-35um測量精度:±5%,測量時間只需30秒便可準確知道鍍層厚度全自動臺面,操作非常方便簡單XRF2000鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能優越,而且價錢超值同比其他牌子相同配置的機器,XRF2000為您大大節省成本。只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統,十字線自動調整。超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業的。可測量各類金屬層、合金層厚度等。可測元素范圍:鈦(Ti)鈾(U)原子序2292準直器:固定種類大小:可選圓形0.10.20.30.4mm方型1×0.4mm自動種類大小:可選圓形0.10.20.30.4mm方型0.05×0.4mm電腦系統:DELL品牌電腦,17寸液晶顯示器,惠普彩色打印機綜合性能:鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析統計功能詳細資料請電:13761400826[詳細]
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2018-10-17 10:00
產品樣冊
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鍍層測厚儀
- 儀器資料[詳細]
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2017-07-17 23:22
產品樣冊
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X射線熒光鍍層膜厚分析儀FT150 -軟件概要-
- X射線熒光鍍層膜厚分析儀FT150 -軟件概要-[詳細]
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2016-04-25 00:00
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X射線熒光鍍層膜厚分析儀FT150 -硬件概要-
- X射線熒光鍍層膜厚分析儀FT150 -硬件概要-[詳細]
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2024-09-14 15:39
專利
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X射線測厚儀的維護
- X射線測厚儀是一種非接觸式厚度測量裝置,可以實現連續實時的在線測量,是鋁板帶加工中廣泛應用的關鍵檢測設備。雖然國內有很多不同型號的X射線測厚儀,但其工作原理是一致的,主要的構成也大體相似。本文根據多年現場維護測厚儀的經驗教訓,簡要介紹測厚儀的測量原理、硬件構成和維護要點。[詳細]
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2024-09-15 19:19
標準
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涂鍍層測厚儀
- 涂鍍層測厚儀[詳細]
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2012-07-31 00:00
操作手冊
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鍍層測厚儀EXF-5700CX
- 產品說明、技術參數及配置:儀器介紹:EXF-5700CX是億信豐科技公司集多年的經驗,專門研發用于鍍層行業的一款儀器,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。是一款功能強大的儀器,配上專門為其開發的軟件,在鍍層行業中可謂大展身手。性能特點:滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求φ0.2mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求高精度移動平臺可極ng確定位測試點,重復定位精度小于0.01mm鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點高分辨率探頭使分析結果更加極ng準良好的射線屏蔽作用技術指標:型號:EXF-5700CX元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。同時可以分析30種以上元素,五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9%。鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)任意多個可選擇的分析和識別模型。相互獨立的基體效應校正模型。多變量非線性回收程序度適應范圍為15℃至30℃。電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源。外觀尺寸:670(W)x470(D)x370(H)mm樣品腔尺寸:520(W)mm×370(D)mm×105(H)mm重量:65kg標準配置:開放式樣品腔。精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實現三維移動。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。Si-Pin探測器。信號檢測電子電路。高低壓電源。X光管。高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機應用領域黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.金屬鍍層的厚度測量,電鍍液和鍍層含量的測定。主要用于貴金屬加工和首飾加工行業;銀行,首飾銷售和檢測機構;電鍍行業。[詳細]
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2018-08-25 10:00
產品樣冊
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電鍍鍍層測厚儀
- XRF2000鍍層測厚儀檢測電子電鍍,化學鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...可測單層,雙層,多層,合金鍍層,測量范圍:0.04-35um測量精度:±5%,測量時間只需30秒便可準確知道鍍層厚度全自動臺面,操作非常方便簡單XRF2000鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能優越,而且價錢超值同比其他牌子相同配置的機器,XRF2000為您大大節省成本。只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統,十字線自動調整。超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業的。可測量各類金屬層、合金層厚度等。可測元素范圍:鈦(Ti)鈾(U)原子序2292準直器:固定種類大小:可選圓形0.10.20.30.4mm方型1×0.4mm自動種類大小:可選圓形0.10.20.30.4mm方型0.05×0.4mm電腦系統:DELL品牌電腦,17寸液晶顯示器,惠普彩色打印機綜合性能:鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析統計功能詳細資料請電:13761400826[詳細]
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2018-10-17 10:00
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2018-10-17 10:00
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CMI243鍍層測厚儀
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2018-09-17 10:00
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X射線熒光鍍層厚度測量儀
- X射線熒光鍍層厚度測量儀[詳細]
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2024-09-14 12:11
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X-Supreme8000 X射線熒光光譜儀
- X-Supreme8000 X射線熒光光譜儀[詳細]
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2024-09-14 19:10
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- 廈門億辰科技有限公司 Lab-X3500X射線熒光光譜儀[詳細]
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2018-09-17 10:00
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X射線熒光光譜分析的基本原理
- X射線熒光光譜分析的基本原理[詳細]
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2024-09-18 18:06
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