在精密測量領域,白光干涉儀憑借其獨特的優勢,已成為實驗室、科研機構、質量檢測以及高端工業制造等行業不可或缺的關鍵設備。其核心原理在于利用白光的干涉特性,實現對微小形貌、表面粗糙度、光學元件精度等參數的非接觸式、高精度測量。
白光干涉儀通常采用邁克爾遜干涉儀或菲索干涉儀的基本結構,但以寬譜白光作為光源。與單色光干涉不同,白光干涉產生的干涉條紋僅在光程差等于零(或為特定整數倍波長)的區域出現,這一特點使得白光干涉儀能夠快速、直觀地定位零級干涉,從而實現對樣品高度、形貌的精確測量。
其主要優勢包括:
白光干涉儀的精確性和通用性使其在多個行業中展現出巨大的應用價值。
在集成電路制造過程中,對晶圓表面形貌、刻蝕深度、薄膜厚度以及掩膜版缺陷的精確控制至關重要。
光學元件的表面質量直接影響其成像性能,白光干涉儀是評價這些元件的關鍵工具。
對于新材料的研發和現有材料的性能優化,白光干涉儀提供了深入的表面結構分析。
在生物傳感器、微流控芯片等領域,對微納結構的精確制造和表征提出了高要求。
在這些對可靠性和精度要求極高的行業,白光干涉儀也扮演著重要角色。
白光干涉儀以其的測量性能,正不斷拓展其在各行各業的應用邊界。從微觀世界的納米形貌到宏觀器件的精密制造,它都是實現精密測量的強大工具,為科學研究和工業生產提供了堅實的數據支撐。
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