儀器網(wǎng)>知識(shí)百科>透射電鏡更新時(shí)間：2026-02-03 12:49:58

透射電鏡百科

導(dǎo)讀: 透射電鏡（TEM），全稱透射電子顯微鏡，是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像將在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏、膠片、以及感光耦合組件）上顯示出來(lái)。透射電鏡分辨率高、放大倍數(shù)大，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)與生命科學(xué)領(lǐng)域。

目錄: 1原理知識(shí) 2結(jié)構(gòu)參數(shù) 3功能作用 4操作使用 5教程說(shuō)明 6維修保養(yǎng) 7注意事項(xiàng)

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1原理知識(shí)

百科

透射電鏡調(diào)節(jié)原理: 本文將深入探討透射電鏡的調(diào)節(jié)原理，分析其在顯微成像中的作用及影響，闡述如何通過(guò)調(diào)節(jié)電鏡系統(tǒng)的不同參數(shù)，提升圖像質(zhì)量、分辨率及對(duì)樣品的探測(cè)能力。透射電鏡的調(diào)節(jié)涉及多個(gè)方面，包括電子源、透鏡系統(tǒng)、樣品支撐、成像模式等，合理調(diào)節(jié)這些元素能夠幫助科研人員獲得更加清晰、精確的顯微圖像，從而更好地理解樣品的微觀結(jié)構(gòu)。

2結(jié)構(gòu)參數(shù)

百科

透射電鏡的鏡筒構(gòu)造: 其高分辨率和深入觀察物質(zhì)內(nèi)部結(jié)構(gòu)的能力，使其成為許多研究工作中的必備工具。在透射電鏡的整體設(shè)計(jì)中，鏡筒構(gòu)造是至關(guān)重要的一部分，直接影響到電鏡的成像質(zhì)量和穩(wěn)定性。本文將詳細(xì)探討透射電鏡鏡筒的構(gòu)造原理、設(shè)計(jì)特點(diǎn)以及其對(duì)顯微鏡性能的影響。

3功能作用

百科

透射電鏡在聚合物中應(yīng)用: 其獨(dú)特的能力可以揭示聚合物材料的微觀結(jié)構(gòu)、形態(tài)及其內(nèi)部特性，從而為材料的設(shè)計(jì)、性能改進(jìn)及工藝優(yōu)化提供寶貴的信息。本文將探討透射電鏡在聚合物中的應(yīng)用，特別是在聚合物的形態(tài)表征、結(jié)構(gòu)解析以及聚合物復(fù)合材料研究中的重要作用。

4操作使用

百科

透射電鏡標(biāo)尺校正: 透射電鏡能夠提供極其精細(xì)的樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像，但為了確保成像的準(zhǔn)確性，標(biāo)尺校正顯得尤為重要。透射電鏡標(biāo)尺校正的目的是通過(guò)精確測(cè)量和調(diào)整儀器的縮放因子，確保終圖像的尺寸準(zhǔn)確反映了樣品的真實(shí)尺寸。這一過(guò)程對(duì)于保證實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的可靠性和重現(xiàn)性具有至關(guān)重要的作用。

5教程說(shuō)明

百科

透射電鏡使用方法: 其通過(guò)高能電子束穿透樣品，獲取其內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息，具有極高的分辨率，可以深入觀察細(xì)微的物質(zhì)結(jié)構(gòu)。本文將詳細(xì)介紹透射電鏡的使用方法，幫助科研人員和工程師有效掌握其操作流程和技巧，以期提高研究精度與效率。

6維修保養(yǎng)

百科

透射電鏡常見(jiàn)故障大全: 在長(zhǎng)期使用過(guò)程中，透射電鏡也難免出現(xiàn)一些常見(jiàn)的故障問(wèn)題，這些問(wèn)題可能影響其工作效率和結(jié)果的準(zhǔn)確性。本文將詳細(xì)列舉透射電鏡在使用過(guò)程中常見(jiàn)的故障類型，分析其可能的原因，并提出相應(yīng)的解決方案，以幫助用戶更好地應(yīng)對(duì)和修復(fù)這些問(wèn)題，從而確保設(shè)備的正常運(yùn)行。

7注意事項(xiàng)

百科

透射電鏡包埋注意事項(xiàng): 在進(jìn)行透射電鏡觀察之前，樣品的處理尤為關(guān)鍵，尤其是包埋步驟。包埋是保證樣品在透射電鏡下獲得高質(zhì)量圖像的基礎(chǔ)。包埋過(guò)程中存在多個(gè)關(guān)鍵注意事項(xiàng)，任何細(xì)微的疏忽都可能影響終的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。因此，了解透射電鏡包埋的注意事項(xiàng)，對(duì)確保實(shí)驗(yàn)精度和樣品質(zhì)量至關(guān)重要。

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最新產(chǎn)品: 賽默飛世爾透射電子顯微鏡 Talos F200S G2 TEM
TEM顯微鏡用于高生產(chǎn)率、高分辨率的TEM和具有化學(xué)定量的STEM表征。; 賽默飛世爾透射電子顯微鏡 Talos F200X G2 TEM
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The Talos L120C TEM 的平臺(tái)式設(shè)計(jì)具備了模塊多功能化，ZG的穩(wěn)定性及操作的便捷性，從而提供可靠的ZJ成像性能。; 賽默飛（原FEI）ELITE 系統(tǒng)
ELITE 是DY款可為二維和三維器件提供動(dòng)態(tài)無(wú)損實(shí)時(shí) LIT 的完全集成系統(tǒng)。作為市場(chǎng)領(lǐng)導(dǎo)者，ELITE 系統(tǒng)的設(shè)計(jì)采用專有的高靈敏度 InSb 攝像頭、定制光學(xué)器件和高級(jí)算法，具有出眾的性能，并可以在Z短時(shí)間內(nèi)獲得結(jié)果，通過(guò)為失效分析工程師提供根本原因分析所需的關(guān)鍵信息，有效縮短分析學(xué)習(xí)的周期。; 賽默飛（原FEI）Talos F200C TEM透射電子顯微鏡
支持范圍廣泛的用戶: 憑借完全數(shù)字化的界面、領(lǐng)先的人體工程學(xué)設(shè)計(jì)以及遙控特征，Talos F200C TEM 使較廣范圍的用戶都能夠擁有功能強(qiáng)大的生物及生物材料樣品三維表征能力。; 賽默飛（原FEI）Helios 5 激光 PFIB
完全集成飛秒激光系統(tǒng)的Thermo Scientific Helios 5 Laser PFIB，這是一臺(tái)先進(jìn)的聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM），可以利用納米級(jí)分辨率實(shí)現(xiàn)快速3D表征毫米尺度材料。; 賽默飛（FEI）Aquilos 2 Cryo-FIB冷凍聚焦離子束顯微鏡
Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam（冷凍聚焦離子束顯微鏡，Cryo-FIB）是一款專用的冷凍雙束顯微鏡系統(tǒng)，可為高端冷凍透射電鏡斷層掃描分析提供ZJ的樣品制備流程。