- 關(guān)于
美國磁通
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- 美國磁通在無損檢測領(lǐng)域擁有超過80年的歷史。20世紀20年代初，工業(yè)領(lǐng)域迫切需要一種價格低廉而可靠的檢測方式來確定大批量生產(chǎn)的機械和結(jié)構(gòu)零件的表面裂紋和缺陷。1929年，美國麻省理工的教授、研究工程師A.V. de Forest與化學家、商學碩士F. B. Doane共同創(chuàng)立了一家專門進行無損探傷的公司，并于1934年正式命名為Magnaflux。1930年Doane先生在位于匹茲堡的家中地下室研制出了世界首臺磁粉探傷機原型機，1933年將其商業(yè)化由此誕生了第一臺商用磁探機Magnaflux M-150。1936年，美國陸軍和海軍的航空兵明確了在其制造維修工廠采用美國磁通的標準。以此為基礎(chǔ)，發(fā)展了美國的磁粉探傷和滲透探傷的標準體系。1941年，美國磁通獲得熒光磁粉的專利技術(shù)，創(chuàng)造了一種全新的無損探傷方法——熒光磁粉探傷。
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