美國KLA產品
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KLA P-17 探針式臺階儀
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KLA P-170全自動探針式表面輪廓儀
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KLA D600 探針式表面輪廓儀
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KLA D500 探針式表面輪廓儀
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KLA P-7 探針式臺階儀
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探針式輪廓儀/臺階儀Tencor P7 /P17
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KLA晶圓探針式輪廓儀/臺階儀P-7
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KLA高精度臺階儀Alpha-Step D-600
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美國KLA（科磊）光學輪廓儀Zeta-20
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美國KLA（科磊）光學輪廓儀P3D
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KLA 臺階儀 D-500
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KLA 臺階儀 D-300
美國KLA應用領域
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- KLA探針式輪廓儀/臺階儀Tencor P7 /P17特點
- KLA 的探針式輪廓儀，特別是 Tencor P7 和 P17 型號，以其的性能和可靠性，成為行業內領先的表面形貌分析工具。本文將深入探討 Tencor P7 和 P17 型號的關鍵特點，幫助從事科研、實驗室分析及工業生產的工作者了解這款設備如何提升工作效率并優化實驗結果。 [詳細]
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2025-12-02 19:15
工作原理|
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- 臺階儀的精度：影響因素與優化方法
- 臺階儀是一種高精度測量設備，廣泛應用于半導體、光學制造等領域。臺階儀的精度直接影響產品的檢測質量，因此，了解其精度的相關知識對于選擇合適的設備和提升生產效率至關重要。 [詳細]
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2025-08-08 16:37
產品評測|
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- 探針式輪廓儀工作原理及主要特點
- 探針式輪廓儀是一種用于測量物體表面微觀形貌和輪廓的精密儀器，廣泛應用于半導體、光學、材料科學等領域。 [詳細]
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2025-08-08 16:32
工作原理|
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美國KLA產品資料
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KLA iMicro 納米壓痕儀- KLA iMicro 納米壓痕儀可輕松測量硬涂層，薄膜和少量材料。該儀器準確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級測試等多種納米級機械測試。可互換的驅動器能夠提供大的動態范圍的力荷[詳細]
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2025-06-27 15:01
產品樣冊|
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- KLA iNano 納米壓痕儀
- KLA iNano 納米壓痕儀可輕松測量薄膜、涂層和少量材料。該儀器準確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級測試等多種納米級機械測試。[詳細]
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2025-06-27 15:00
產品樣冊|
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- KLA R54 四探針電阻率測量儀
- KLA R54 四探針電阻率測量儀是KLA的電阻率測量產品。從半導體制造到實現可穿戴技術所需的柔性電子產品，薄膜電阻監控對于任何使用導電薄膜的行業都相當重要。KLA R54 四探針電阻率測量儀在功能上[詳細]
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2025-06-27 14:58
產品樣冊|
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- KLA Zeta-20 白光共聚焦顯微鏡
- Zeta-20 白光共聚焦顯微鏡可以對大部分材料和結構進行成像分析，從光滑到高粗糙度、低反射率到高反射率表面、透明到不透明介質。[詳細]
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2025-06-19 17:05
產品樣冊|
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手機可直撥
滬公網安備 31011502008050號
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