二手 日立 SEM+EDX 冷場電鏡

二手 日立 SEM+EDX冷場電鏡主要技術指標：

     電子光學系統：分辨率：≥1.0nm(加速電壓15kV), ≥2.0nm(加速電壓1kV), ≥1.3nm(照射電壓1kV，使用減速裝置或GB方式時) 放大倍數：最小≥20倍；最大≤80萬倍（底片模式） 最小≥60倍；最大≤200萬倍（顯示器模式）電子槍：冷場發射電子槍電子束流：≥1pA, 且連續可變檢測器：二次電子檢測器：配有高位、低位以及頂部二次電子探測器，每個探測器都可以稱二次電子像和背散射電子像，并可以任意比例混合。頂部探頭可以接受高位背散射電子，并可成電位襯度像。

     用于材料的微觀表面觀察與成分分析，包括納米結構材料的觀察和表征。此外，還要求對一些容易受電子束損傷的樣品和導電性非常差的樣品可以在低加速電壓和/或低真空模式下進行直接觀察。

二手 日立 SU-8020冷場電鏡特點：

1. 優秀的低加速電壓成像能力，1kv分辨率可達1.3nm

2. 日立專利的ExB設計，不需噴鍍，可以直接觀測不導電樣品

3. 配置Lower、Upper和Top三個Everhart-Thornley型探測器

4. Upper和Top探頭均可選擇接受二次電子像或背散射電子像

5. 可以根據樣品類型和觀測要求選擇打開或關閉減速功能

6. 標配有冷指、電子槍內置加熱器，物鏡光闌具有自清潔功能

7. 儀器的烘烤維護及烘烤后的透鏡機械對中均可由用戶自行完成 

日立 SU8020 掃描電子顯微鏡

• ?核心參數?：

• ?分辨率?：1.0nm（15kV加速電壓，工作距離4mm）；1.3nm（1kV加速電壓，使用減速功能）；2.0nm（1kV加速電壓） ?12

• 放大倍數?：20-2,000,000倍 ?13

• ?加速電壓?：0.1-30kV連續可調 ?12

• ?檢測器?：配備二次電子檢測器、背散射電子檢測器及高位/低位探頭 ?23

SU8020 超聲波流量傳感器

?核心參數?：

• 測量范圍?：1-240 l/min（液體）、60-14400 l/h（氣體） ?45

• 工作電壓?：18-32V DC，支持IO-Link通信 ??4

• 材質?：不銹鋼測量管，耐腐蝕、防漏設計 ?45