ORTEC N型高純鍺（HPGe）γ譜儀

產(chǎn)品介紹：

GAMMA-X N型同軸HPGe探測(cè)器適用于能量范圍為~3 keV及以上的高性能伽馬能譜測(cè)量。

GAMMA-X（GMX）探測(cè)器是一款同軸高純鍺（HPGe）探測(cè)器，具有超薄入射窗口。大多數(shù)同軸探測(cè)器具有500至1000微米厚的入射窗口，但該探測(cè)器的入射窗口是一個(gè)0.3微米厚的離子注入接觸面，將較低的有用能量范圍擴(kuò)展至約3 keV。離子注入將產(chǎn)生完全穩(wěn)定的接觸面，其不會(huì)隨著重復(fù)回溫循環(huán)而惡化。此外，N型HPGe探測(cè)器已經(jīng)證明能夠抵抗快中子損傷。

GAMMA-X系列特征：

• GAMMA-X效率標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品可達(dá)100％，還可應(yīng)要求提高。

• 譜測(cè)量從3 keV向上。

• 超薄硼離子注入輻射窗口，是康普頓抑 制系統(tǒng)的理想選擇。

• 抗中子損傷；用戶自修復(fù)中子損傷選件。

• 出色的能量分辨率和峰對(duì)稱性。

• SMART偏壓選件。

• 惡劣環(huán)境（-HE）選件。

• 鈹窗口配有保護(hù)罩；鋁或碳纖維窗口選件可免費(fèi)提供。

• 低本底碳纖維端蓋選件。

• 外加前置放大器選件適用于超高計(jì)數(shù)率應(yīng)用。

• 巨大的配置靈活性，PopTop、Streamline和機(jī)械冷卻選項(xiàng)。

可選附件：

集成低溫冷卻系統(tǒng)選件（-ICS-E）
集成低溫冷卻系統(tǒng)（ICS）低溫恒溫器配備有低溫冷卻器，不受回溫循環(huán)的影響。與使用標(biāo)準(zhǔn)型低溫恒溫器探測(cè)器的典型三天損失不同，ICS可以立即重新冷卻，最 大限度地減少因臨時(shí)回溫而損失的任何時(shí)間。

SMART-1選件 (-SMN)
SMART-1選件用于監(jiān)控和報(bào)告重要的系統(tǒng)功能，還可保存驗(yàn)證碼并在稍后報(bào)告該驗(yàn)證碼。它包括高壓，因此所有儀器都不需要外部高壓電源。SMART-1采用堅(jiān)固的ABS模塑塑料外殼，并通過模塑密封電纜牢牢地固定在探測(cè)器端蓋上。這可避免探測(cè)器因水分泄漏到高壓連接器中而受到嚴(yán)重?fù)p壞。SMART-1可以放置在任何方便使用的位置，不會(huì)干擾屏蔽罩或其他安裝硬件。

超高計(jì)數(shù)率前置放大器選件（-PL）
超高計(jì)數(shù)率前置放大器（晶體管復(fù)位前置放大器）可在1 MeV下處理高達(dá)1,000,000個(gè)計(jì)數(shù)/秒的輸入計(jì)數(shù)率，并具有無反饋電阻的額外優(yōu)勢(shì)。

惡劣環(huán)境選件（-HE）
惡劣環(huán)境選件是一個(gè)堅(jiān)固的碳纖維端蓋，配有密封的電子設(shè)備外殼，并帶有可更換的干燥劑包，用以確保電子設(shè)備保持100％干燥并指示何時(shí)需要更換干燥劑包。直徑為76 mm或更大PopTop封裝設(shè)計(jì)中的GMX系列探測(cè)器可配備此選件。

遠(yuǎn)程前置放大器選件（-HJ）
此選件讓所有前置放大器和高壓接頭位于屏蔽之外，并將前置放大器和高壓濾波器從Ge晶體的“視線”移開。對(duì)于低本底應(yīng)用，此選件消除了可能增加屏蔽罩內(nèi)部本底的任何可能性，來源于前置放大器或高壓濾波器組件。

低本底碳纖維端蓋選件（-RB、-LB-C和-XLB-C）
低本底碳纖維端蓋與Al、Mg和Cu一樣堅(jiān)固，產(chǎn)生的本底少，不腐蝕，并且可以檢測(cè)低于10 keV的能量。這種較低的本底材料可在特定計(jì)數(shù)時(shí)間內(nèi)降低最小可探測(cè)活度（MDA），這為在低本底計(jì)數(shù)應(yīng)用中增加樣品通量提供了另一種方法。碳纖維的低Z值可提供低能量窗口，而不會(huì)產(chǎn)生在大多數(shù)合金中發(fā)現(xiàn)的額外本底。

鋁窗選件（-A）
如果感興趣的能量超過20 keV，則可以選擇全鋁端蓋。

碳纖維窗選件（-CW）
碳纖維窗口可用于大于約8 keV的能量。雖然這個(gè)窗口不能通過所有較低的能量，但碳纖維的Z比Al低，并且不存在任何與Be相關(guān)的危險(xiǎn)。