濕法激光粒度儀NKT6100-H
產品概述PRODUCT OVERVIEW
NKT6100-H采用了耐克特新一代前向、側向、后向光路，無論是量程還是儀器的性能都得到了大幅提升。采用第五代超高速采集主板，保證了儀器對散射信號采集的全面性、準確性。采用國際最 先 進的Mie氏散射原理和會聚光傅立葉變換光路,傅里葉變換鏡頭+濾波鏡頭雙鏡頭技術的采用保證了儀器的測量精度，高密度陣列探頭及全量程無縫銜接測試方法，保證了測試結果的準確性和重復性。獨特的濕法循環分散系統采取了管道無殘留設計，保證顆粒測試過程中無顆粒沉積現象，測試排水后無廢液積存現象,不但保證了測試不同樣品的準確性，還保證了第二次測試精度，使測試結果更真實可靠。
適用范圍 SCOPE OF APPLICATION
NKT6100-C激光粒度儀被廣泛應用于各種金屬、非金屬粉：如重鈣、輕鈣、滑石粉、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸鋯、氧化鋯、氧化鎂、氧化鋅、河流泥沙、鋰電池材料、催化劑、熒光粉、水泥、磨料、醫藥、農藥、食品、涂料、染料、陶瓷原料、化工材料、納米材料、造紙填料涂料、各種乳液等
產品參數 Product Parameters
| 測量原理 | 全量程激光衍射 |
| 粒徑范圍 | 0.1μm -3000μm /0.01μm -3000μm （全量程測試） |
| 探測系統 | 130/136通道均勻交叉及面積補償多方位激光器陣列 |
| 激 光 器 | 進口大功率光纖輸出半導體激光器，波長635nm，功率 最 大20毫瓦 |
| 激光管理 | LIMS激光智能管理系統 |
| 光學模型 | 全量程米氏散射理論，包含高濃度多重散射動態補償技術 |
| 濾波方式 | 雙鏡頭濾波技術,傅里葉變換鏡頭+濾波鏡頭 |
| 采集主板 | 16bit,200kbs超高速采集主板 |
| 濃度范圍 | 最 低遮光度3%，最 高遮光度90%（光學濃度） |
| 樣 品 池 | 特殊鍍膜工藝處理,光信號透過率＞99.7% |
| 保護功能 | 超聲防干燒、雙液位傳感器、溢流管、誤操作無響應 |
| 超聲功率 | 50W/60W可選，可選裝可調功率超聲、 |
| 對中系統 | 機械中心+光學中心雙定位全自動對中系統 |
| 測量時間 | 典型值＜10秒 |
| 測量精度 | 準確性、重復性Dv50均優于±0.5%（NIST可溯源標準樣品） |
| 測量方式 | SOP可編輯全自動測量 |
| 環境溫度 | 0°C-45°C |
| 環境濕度 | 10%-85%相對濕度（無結凝） |
| 電源要求 | 220V(±20V),50Hz–60Hz |
| 執行標準 | GB/T 19077-2016/ISO 13320:2009 |
| 外觀尺寸 | 1050mm×320mm×335mm |
| 儀器重量 | 46kg |
詳細技術參數 請與銷售部聯系
技術詳解 TECHNICAL EXPLANATION
激光智能管理系統
儀器使用國際先進的激光智能管理系統，實時監測儀器的工作狀態，一旦接收到工作的命令智能管理系統會瞬間點亮激光器，高性能激光器會在3秒內達到穩定的工作狀態。樣品測試完畢后智能管理系統會自動關閉激光器，激光器基本上不會衰減，理論上粒度儀可以終身不需要更換激光器。
全智能操作模式
點擊運行SOP（可編輯）即可自動完成進水、排氣泡、背景采集、樣品分散、采集測量數據、保存、清洗等所有功能，操作人員只需放待測樣品，測試結果不受人為因素影響。
誤操作保護功能
儀器具有誤操作儀器無響應功能，超聲防干燒功能，水過量溢出功能。
自動加注分散劑功能
部分樣品具有較強的團聚性，需加某些特定的分散劑，人工加注或多或少無法定量，自動加注系統會按需定量加注分散劑，測量結果穩定準確。
雙鏡頭技術
傅里葉變換鏡頭+濾波鏡頭單光路雙鏡頭技術的采用，可有效的過濾掉光信號非必要的雜散光，可獲取到更純凈的光學背景，提高測量靈敏度。
超高速主板
高速主板，10000次/秒的采樣速度，樣品在激光光束中 0.1s即可得出準確結果。
防塵防震
儀器的防震處理使儀器具有了更穩定的光路系統，探測器無需調整。
樣品無殘留設計
儀器管道及排水結構進行了優化設計，儀器管道、采用專 利技術的循環泵內無積液殘留，避免對下一次測試數據的影響。
樣品窗快速更換
全新設計的樣品窗快換裝置，使樣品窗更換更方便快捷（10秒鐘即可完成樣品窗的拆裝過程)。
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一臺簡潔小巧的裝置能同時實現對納米粒子三項參數的表征：粒徑、Zeta電位和分子量。 納米技術的研發是一個持續不斷的過程，在分子和原子水平上控制物質以獲得新、好、先進的材料和產品。為了得到效率高性能好的產品，并減少能量的消耗，HORIBA 推出了SZ-100V2納米顆粒分析儀。此儀器通過簡單操作即可對納米顆粒進行多參數分析！
HORIBA LA-960V2激光粒徑分布分析儀秉承HORIBA 一貫的以獨創設計的傳統，其直觀的軟件、附件和高效的性能，能解決廣泛的應用問題。
Zetasizer Ultra 是用于測量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統，在結合了 Zetasizer Pro 和 Lab 所有特性和優點的基礎上，增加了多角度動態光散射技術（MADLS?），是 Zetasizer Advance 系列中Z智能和靈活的儀器。
Morphologi 4 是一個全自動靜態圖像分析系統，可測量干粉顆粒，混懸液和濾膜上顆粒的粒徑和形貌。它旨在滿足多學科研發實驗室的多樣化需求，是昂貴且耗時的手動顯微鏡的理想替代工具。由于完全自動化運行且數據分析簡單，與手動方法相比，節約大量的時間。僅需簡單標準化操作程序 （SOP） 的驅動操作，即可執行可靠的可重復測量。
Zetasizer Pro是一款功能強大、用途廣泛的常規實驗室測量解決方案，可測量顆粒粒度、分子大小、電泳遷移率、Zeta 電位和分子量。 與以往型號相比，其粒度測量速度超過以往的兩倍，大大加快了樣品處理速度。
Topsizer Plus激光粒度分析儀是繼廣受贊譽的Topsizer后，作為馬爾文帕納科的全資子公司，珠海歐美克儀器有限公司推出的又一款高端粒度分析儀器。
更多nCS1?特點： 不依賴于顆粒材料屬性 高分辨率粒徑分布 量程范圍：50nm到10μm 任意多分散性 總樣品分析在幾分鐘內 一次性微流控芯片 一次測試僅需3μL樣品 適用領域： 蛋白質聚集物、病毒等 外泌體、微囊泡、脂質體、納米乳 納米藥品、吸入劑、尾端大顆粒 血清中的生物標志物等 無機納米顆粒：金/銀、硅質衍生物、金屬氧化物納米顆粒等。
本標準物質可用于電子顯微鏡、不同原理的粒度測量儀，如激光衍射法粒度儀、動態光散射法粒度儀，以及不同原理的顆粒計數器粒徑的檢定/校準工作。
營業執照已審核
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滬公網安備 31011502008050號