賽默飛世爾 Neoma? MS/MS MC-ICP-MS質譜儀

產品介紹：

分離出同量異序干擾，可在同位素研究中達到新的精度和準確度。在某些情況下，即使使用最 好的 ICP-MS 儀器，最 高分辨率也依然不夠高，無法解決同量異序干擾。Thermo Scientific? Neoma? MS/MS MC-ICP-MS 可解決上述問題。

Neoma MS/MS MC-ICP-MS 是首 款專用碰撞/反應池 MC-ICP-MS，具有獨特的池前質量過濾技術，能分離出同量序干擾并在激光剝蝕 MC-ICP-MS 及其他領域開辟出新方法。

模式：

• 全傳輸模式：高精度同位素分析，無需使用碰撞/反應池技術。此外，池前質量過濾器可用于去除基質元素，進而提高靈敏度并提高豐度靈敏度。

•  碰撞/反應池模式：對于同量異序干擾顯著的同位素系統，池前質量過濾器專 利技術可去除可能在 CRC 中引起二次反應的基質元素。

應用范圍：

• 原位 Rb-Sr 定年：通過結合池前質量過濾器、碰撞/反應池和多接收器檢測器陣列，對地質樣本定年可達到極高的精度。

• 無干擾 Ti 同位素分析：池前質量過濾器可用于去除分子和雙電荷干擾，碰撞/反應池可用于去除同量異序干擾。

• 生物碳酸鹽的原位硼同位素分析：通過使用池前質量過濾器消除來自 10B 上分散 Ca4+ 離子的干擾，使 LA-MC-ICP-MS 分析達到極其高的準確度。

• K 同位素分析：40Ar+ 的干擾可能會影響 K 同位素分析的精度和準確度。通過以下任一方法消除 40Ar+ 的干擾：(1) 借助 Neoma MC-ICP-MS 的超高分辨率 (XHR)，或 (2) 樣品量較小時，在碰撞/反應池中使用 H2 和 He 來中和 40Ar 和 40ArH。 

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技術選項：

• 通過 24 放大器陣列擴大選擇：離子電流放大器安裝在雙重屏蔽的真空恒溫殼體中，溫度穩定性為 0.01?C/小時，以確保基線和增益穩定性。

•  增強型可變檢測器陣列：用不同分散的離子束對所有 11 個杯子進行精確校準，確保靈活性，以涵蓋從 Li 到 U （低分辨率或高分辨率）的同位素應用范圍，且不影響質譜儀的固有散射性。

•  Jet 接口：Jet 接口與去溶霧化系統系統相結合，靈敏度比標準濕等離子體高 10 至 20 倍。

•  多種分辨率可選：3 種不同的質量分辨率，可極大程度地提高分析靈敏度，同時亦可解決干擾問題。

•  檢測器類型的靈活性：靈活的三檢測器系統，涵蓋信號強度范圍 (1 cps – 6 Gcps) 內 >9 個數量級。中 央通道配有雙模式檢測器，可從法拉第杯切換到 SEM 離子計數器，并且使用專有的繼電器矩陣，可通過軟件將任一放大器分配給任何法拉第杯。

•  1013 Ω 放大器技術：極低的噪聲特性并確保快速響應時間。法拉第杯的優點可在低信號強度 (30 kcps – 3 Mcps) 下實現，提供接近計數統計極限的外部精度。