可變角度光散射儀(廣角動/靜態光散射儀)用于顆粒表征。LS Spectrometer是一種可變多角度光散射儀器(V-MALS)。在LS Spectrometer中,檢測器安裝在可移動的臂上,可以對幾乎任何角度進行精確調整,從而提高測量靈敏度。LS Spectrometer結合專利的調制三維技術(Modulated 3D)(無稀釋測量)和CORENN(改進的聚集檢測),實現了市場上全面的納米顆粒表征。
- 它能測量什么?
? 顆粒大小
? 多分散性
? 顆粒形狀
? 粘度
? 分子量
? 樣品結構

- 可變多角度光散射(V-MALS)
與帶有固定角度傳感器的多角度光散射(MALS)儀器不同,LS Spectrometer的檢測器安裝在樣品池周圍的旋轉臂上,因此可以精確可變地調整到10°至150°之間的任何選定散射角。這有助于顯著提高顆粒大小、聚集檢測、第二維里系數、顆粒形狀或分子量等參數測量的靈敏度。

- 無稀釋樣品測量-調制三維技術(Modulated 3D)
DLS和SLS技術都是基于僅檢測到單次散射光的假設。然而,隨著顆粒濃度的增加,多重散射增加并逐漸主導信號。這在DLS和SLS中都引入了無法檢測的系統誤差。無論重復測量多長時間或多少次,都無法消除或檢測到此錯誤。為了克服這個問題,LS Instruments開發了可選的調制三維技術,可以有效抑制多重散射。調制三維互相關技術使用兩個激光束同時進行兩個散射實驗,雖然單次散射的貢獻是相同的,但在兩個實驗中多重散射的貢獻不同。通過對信號進行互相關,從而抑制了多重散射。三維 LS Spectrometer是一款同時為DLS和SLS提供該技術的儀器。

- 算法用于改進復雜樣品中的聚集和顆粒檢測
CORENN算法是一種新的機器學習算法,用于從DLS測量中提取粒度分布(PSD)。CORENN是一種利用先進的信號近似技術和對信號噪聲的獨特理論估計的DLS反演算法,可以得到極其可靠的結果。這種穩健的方法使z終用戶能夠從真實的DLS實驗中獲得真實的粒度分布(PSD)。下圖顯示了4nm和45nm的顆?;旌衔锏腄LS測量結果,只有CORENN算法能夠準確得到這兩個分布。

- 用去偏振動態光散射(Depolarized DLS)表征各向異性粒子
這是一種可以輕松地表征各向異性粒子的技術,并越來越受到科學家的關注:一組兩個偏振器可以通過簡單的DLS測量來表征樣品的旋轉動力學和各向異性粒子的縱橫比。

- 溫度控制
我們強大的溫度循環器使您能夠精確控制樣品中的溫度。與其他循環器相比,它顯著減少了加熱和冷卻時間。它可以通過LsLab軟件進行預編程,以實現不同溫度下的一系列測量。
- 樣品轉角儀
許多適用于光散射的凝膠狀樣品顯示出非遍歷(non-ergodic)行為,從而導致測量誤差。LS Instruments公司開發了一種樣品轉角儀,可以用適當的速度旋轉非遍歷樣品,以獲得正確的結果。此外,樣品轉角儀也可用于使樣品偏離旋轉中心,從而能夠使用方形樣品池,樣品中散射光的光程可以減少到小于200微米,這顯著減少了多重散射。
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可變角度光散射儀
| 原理技術 | 動態光散射和靜態光散射(DLS和SLS),可升級三維技術(3D)和調制三維技術(Modulated 3D) |
| 樣品體積 | 50μL-4mL |
| 粒度范圍 (Rh) | 0.15nm-5μm* |
| 回旋半徑 | 5nm-5μm* |
| 分子量 | 360-3,600,000Dalton* |
| 角度范圍 | 10°-150° |
| 角度分辨率 | 優于0.05° |
| 激光 | 光纖耦合激光器,120 mW,638 nm |
| 激光產品類別 | 1類(class 1) |
| 相關器 | 320通道, 延遲時間12.5ns至15小時,自相關和互相關 |
| 檢測器 | 兩個高性能雪崩光電二極管(APD)檢測器,單模光纖,具有檢測器噪聲去除功能(準互相關模式),量子效率QE65%,暗計數<250cps. |
| 激光控制 | 自動衰減器-激光強度調整范圍0.001%-100% |
| 溫度 | 高至90°C |
| 尺寸(長x寬x高) | 156x84x31cm |
| 軟件 | LsLab軟件,用于數據采集和分析,包括Cumulant和CORENN分析、Zimm Plot、Guinier Plot和Debye Plot。 |
| *取決于樣品 |
報價:面議
已咨詢394次光散射儀
報價:¥500000
已咨詢5979次粒度儀
報價:面議
已咨詢641次光散射儀
報價:面議
已咨詢239次BeSEC光散射檢測器
報價:面議
已咨詢1819次光束整形器
報價:面議
已咨詢2552次X射線儀器
報價:面議
已咨詢455次反射率測量設備
報價:面議
已咨詢72次納米粒度分析
SMILLA(Smart Modular Imaging Laboratory Liquid Analyzer)是一款采用高分辨率流式成像顯微鏡(HiRes-FIM)技術的前沿模塊化解決方案,用于分析可見及亞可見顆粒。其靈活的設計可輕松適應實驗室的特定需求,提供高效、精zhun且可重復的分析結果。
Theta Flow Wafer晶圓接觸角測量儀是一款高端的晶圓全自動接觸角測量儀器。該儀器包括Theta Flow Wafer光學接觸角測量儀主機,可配置四個具有軟件控制、可水平移動、可拋棄滴液頭的自動滴液器,以及帶自動旋轉的全自動XYZ樣品臺。
數字相關器適用于PCS技術,如動態光散射、熒光相關光譜、擴散波光譜、擴散光學層析成像。
NanoLab 3D是一款緊湊型動態光散射(DLS)粒度測量儀器,基于開創性的專利調制三維互相關技術(Modulated 3D Cross-Correlation)。它有效地抑制了多重光散射,因此大多數樣品不再需要樣品稀釋。
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POROLUX BP是一款泡點測試儀,用于測量過濾和分離應用介質中的Z大孔徑(通常稱為“泡點 (BP)”)。 POROLUX BP可在0 bar (0 psi) 至 5 bar (75 psi) 的壓力范圍內快速準確地提供泡點結果,并可檢測約300 μm 至 0.13 μm的孔隙。 由于其簡化的操作,POROLUX BP 為 BP dPL(起泡點測量為與用戶定義的壓力增加的線性度的偏差)和 BP x-ml(在用戶定義的流量下測量的起泡點)提供了高度可重復的結果速度)。這使得 POROLUX BP 成為許多生產過濾和分離介質的公司進行質量控制和/或研發的明確選擇。
POROLIQ 是一種液液通孔分析儀(LLP),可根據步進/平衡型方法確定孔徑。這意味著只有在滿足用戶定義的壓力和流量穩定性算法的情況下才接受數據點。 POROLIQ 被廣泛認為是市場上先進準確的液液法通孔分析儀之一。 適合檢測非常小的孔隙,以及表征中空纖維等壓敏膜。