半導體參數測試儀

陜西天士立科技有限公司/STD2000/半導體參數測試儀系統可以測試Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR等電子元器件的靜態直流參數和IV曲線（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導通內阻Rds(on)）。測試種類覆蓋 7 大類別26分類，包括“二極管類”“三極管類（如BJT、MOSFET、IGBT）”“保護類器件”“穩壓集成類”“繼電器類”“光耦類”“傳感監測類”等品類的繁多的電子元器件高壓源標配1400V（選配2KV），高流源標配100A（選配40A,200A,500A）控制極/柵極電壓40V，柵極電流100mA分辨率至1.5uV / 1.5pA，精度可至0.1%

1、STD2000/半導體分立器件靜態參數測試儀系統 2、一機多用：一臺設備可以覆蓋常見的很多元器件，如Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR、OC/光耦等 3、分辨率高：Z高至1.5uV / 1.5pA， 4、精度有保證：0.1% / 16 位 ADC、1M/S 采樣率 5、測試參數全面：靜態參數+IV曲線（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導/Gfe/Gfs、壓降/Vf、內阻Rds(on)）/6、高壓源：標配1400V 選配2KV/7、高流源：標配100A 選配40A,200A,500A 8、柵極電壓：40V 9、柵極電流：100mA

華科智源功率器件測試儀，測試二極管 、IGBT，MOS管，SIC器件靜態參數，并生產器件傳輸曲線和轉移曲線，測試1600A，5000V以下的各種功率器件，廣泛應用于器件設計，封裝測試，軌道交通，電動汽車 ，風力發電，變頻器，焊機等行業的IGBT來料選型和失效分析。

華科智源功率半導體參數測試儀，測試二極管 、IGBT，MOS管，SIC器件靜態參數，并生產器件傳輸曲線和轉移曲線，測試1600A，5000V以下的各種功率器件，廣泛應用于器件設計，封裝測試，軌道交通，電動汽車 ，風力發電，變頻器，焊機等行業的IGBT來料選型和失效分析。

Agilent4156C/安捷倫4156C半導體參數分析儀 Agilent 4155C 半導體參數分析儀是用于高級器件表征的精確實驗室臺式解決方案。Agilent 41501B 擴展器將您的功能擴展到 1A/200V，并在 Agilent 4155C 上添加了一個低噪聲接地單元和雙脈沖發生器。

我們的優勢： 品種齊全，貨源充足，存庫雄厚，服務快捷,維修能力強! 本公司二手儀器貨源廣闊，jue 大部分將繼續直接從國外引進，成色新，價格 低，性價比極高，并且在售后服務方面盡 zui 大努力做到 zui 好！歡迎來電 垂詢 或親臨選購，并歡迎預訂。

Agilent/安捷倫4155C 半導體參數分析儀 描述 Keysight 4155C 半導體參數分析儀是一款經濟gao效、精確、適用于先進器件表征的實驗室用臺式解決方案。41501B Expander 可將儀器的測量范圍擴展至 1A/200V，并為 4155C 添加低噪聲接地單元和雙脈沖發生器。

Agilent/安捷倫4155C半導體參數分析儀 安捷倫4155C半導體參數分析儀是一款經濟GX、適用于先進器件表征的實驗室用臺式解決方案。41501B?Expander?可將儀器的測量范圍擴展至?1A/200V，并為4155C添加低噪聲接地單元和雙脈沖發生器。