【國儀FIB秀】國產FIB實操展示——透射電鏡樣品制備

國儀FIB秀

聚焦離子束電子束雙束顯微鏡可用于大規(guī)模集成電路的缺陷診斷、修補、離子注入、原位加工、掩膜版修理、刻蝕，集成電路設計修改，量子芯片器件制作，無掩膜加工，納米結構制作，復雜納米圖形加工，材料的三維成像與分析、超靈敏表面分析、表面改性，以及透射電鏡樣品制備等方面。應用需求廣泛，不可或缺。

目前，國儀量子推出的聚焦離子束電子束雙束顯微鏡DB500擁有自主可控的場發(fā)射電子鏡筒和“承影”離子鏡筒，是一款優(yōu)雅全能的納米分析和制樣工具。高壓隧道技術（SuperTunnel）、低像差無漏磁物鏡設計，低電壓高分辨率成像，保證納米分析能力。“承影”離子鏡筒采用液態(tài)鎵離子源，擁有高穩(wěn)定、高質量的離子束流，保證納米加工能力。集成式的納米機械手、氣體注入器，擁有24個擴展口，配置全面，自主可控，擴展性強，為您打造全能納米分析和加工中心。

為向用戶展示DB500的卓越性能，國儀量子電鏡團隊特別策劃了《國儀FIB秀》專題節(jié)目，將通過視頻形式，呈現(xiàn)這臺尖端設備在材料科學、半導體工業(yè)、生物醫(yī)學等領域的廣泛應用。觀眾將了解DB500的工作原理，欣賞其拍攝的驚艷微觀圖像，并深入探索這一技術對科研和工業(yè)發(fā)展的重大意義。

標簽：透射電鏡