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晶片或LCD和TFT的檢驗、過程控制和缺陷分析必須快速、精確并符合人體工學. Leica DM8000 M和DM12000 M光學檢驗顯微鏡提供了一個創新而性價比高的系統解決方案,幫助客戶充滿信心地應對現在和未來的手動檢驗挑戰。除了視場和高分辨率光學部件,這些系統還采用了高度人性化的設計和全內置的LED照明,可以從不同角度照亮樣品。
更大的視場,更快速的檢驗
Leica DM8000 M和Leica DM12000 M集成的宏觀模式為您提供了4倍于常規描物鏡的視場。看得更多也就意味著更快的效率。
各個角度均可獲得高分辨率
新的Oblique UV (OUV)模式組合了斜射照明和紫外線,讓您可以從任意角度以高分辨率查看樣品一并提高了檢驗結果的精確度。
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