X射線熒光鍍層膜厚分析儀FT150 -軟件概要-

X射線熒光鍍層厚度測量儀作為一種可高速簡便地對(duì)電子零件等的鍍層，半導(dǎo)體工藝中的薄膜，以及汽車部件中各類工業(yè)產(chǎn)品表皮膜等的膜厚進(jìn)行管理的儀器而被廣泛應(yīng)用 FT150利用多毛細(xì)管所產(chǎn)生的照射直徑為30 m的高強(qiáng)度X射線光束，Z適于測量微小連接器柔性電路板及導(dǎo)線架等微小零件及超薄鍍層 日立 FT150系列 熒光X射線鍍層膜厚測量儀