BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta 電位分析儀

 粒徑測試

• 原理：動態(tài)光散射技術(shù)

• 粒徑范圍：0.3 nm – 15 μm

• 樣品量：3 μL - 1 mL

• 檢測角度：173°+90°+12°

• 分析算法：Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta電位測試

• 原理：相位分析光散射技術(shù)

• 檢測角度：12°

• Zeta范圍：無實際限制

• 電泳遷移率范圍：> ±20 μ.cm/V.s

• 電導(dǎo)率范圍：0 - 260 mS/cm

• Zeta測試粒徑范圍：2 nm – 110 μm

分子量測試

• 分子量范圍：342 Da – 2 x 10⁷ Da

微流變測試

• 頻率范圍：0.2 – 1.3 x 10⁷ rad/s

• 測試能力：均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/p>

粘度和折光率測試

• 粘度范圍：0.01 cp – 100 cp

• 折光率范圍：1.3-1.6

趨勢測試

• 模式：時間和溫度

系統(tǒng)參數(shù)

• 溫控范圍：-15° C - 110° C+/- 0.1°C

• 冷凝控制：干燥空氣或者氮氣
  

• 標準激光光源：50 mW 高性能固體激光器， 671 nm

• 相關(guān)器：Z快25 ns采樣，Z多 4000 通道，10¹¹ 動態(tài)線性范圍

• 檢測器：APD （高性能雪崩光電二極管）

• 光強控制：0.0001% - 100%，手動或自動

軟件

• 中文和英文

• 符合21CFR Part 11

  原理圖

Optical system