動態光散射納米粒度及Zeta 電位分析儀 Litesizer DLS系列

三個角度，實時監控，確保粒徑更準確

Litesizer DLS 提供了三種不同的檢測角度選擇，來測量各種各樣的樣品，同時通過自動角度選擇消除誤差。 
多角度粒度測量 (MAPS) 測量模式提供了出色的分辨率，支持先進的分析精度。 
我們的連續透光率監控技術是市面上獨有的，可在整個測量過程中提供樣品行為的實時反饋，為用戶提供有關沉降或結塊的實時信息。這種實時洞察提高了測量質量和可靠性，使我們的系統成為準確、可靠的顆粒分析最佳選擇。

市場領先的 Zeta 電位分析

我們的動態光散射儀器的專利 cmPALS 技術采用獨特設計，可消除由老化效應所引起的可重復不確定性。 
此外，Omega 樣品池的創新設計大限度地減少了電場的梯度，進一步提高了可重復性 (±3%)。我們的儀器具有業界領先的 zeta 電位測量粒度范圍（從 1.3 nm 到 100 μm），可提供最豐富的功能，確保在廣泛的應用中獲得精確、一致的結果。

Kalliope：測量粒度的基準軟件

Kalliope 軟件幾乎不需要用戶培訓。 
只需三次點擊即可進行測量。我們獨特的單頁布局提供了輸入參數、測量信號和結果的實時概覽，讓您對所需了解的一切都一目了然。通過預先設置的標準報告和條理清晰的結果摘要，快速訪問測量結果。 
如需更詳細的分析，請使用可自定義的報告模板、Excel 導出選項和高級分析功能。此外，Kalliope 完全符合 21 CFR Part 11，確保了數據的完整性和合規性。

滿足您所需的所有測量模式

利用 Litesizer DLS 701 的顆粒濃度測量模式，增強您的多功能性能，可對單個樣本中最多三個不同粒徑群體進行免校準濃度分析。無論您使用單角度 DLS 還是 MAPS，此模式均支持更大濃度范圍內的單分散和多分散樣品。
此外，在精確的波長和測量溫度下測量溶劑的折射率（歐洲專利 3 023 770），確保粒度和 zeta 電位結果的最高精度。Litesizer DLS 701 和 DLS 501 能提供高達 ±0.5% 的精確折射率測量。
最重要的是，Litesizer DLS 系列還能提供分子量測量。
 

功能強大的過濾器選項

Litesizer DLS 701 和 501 是市場上為用戶提供可在三個角度方向應用的熒光和偏振濾光片之間獨特選擇的動態光散射儀器。這使其能夠進行顆粒濃度分析以及應用過濾器的 MAPS 三角分析或特定的單角度分析 - 允許使用同類儀器無法進行的分析類型（例如量子點的濃度測定）。