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  • 2026-01-14 17:15發(fā)布了技術(shù)文章

    應(yīng)用案例 | 揭示濕法冶金過程中的元素分析
    本文利用 Tescan 原位4D能譜CT技術(shù),研究了濕法冶金中白鉛礦的可持續(xù)浸出過程。
    44人看過
  • 2026-01-07 17:15發(fā)布了行業(yè)資訊

    新聞發(fā)布 | 凱雷集團與島津制作所簽署協(xié)議的最新進展
    本次交易不會對客戶關(guān)系、服務(wù)支持、產(chǎn)品質(zhì)?;虍?dāng)前進行中的項目產(chǎn)生任何影響。
    253人看過
  • 2026-01-01 09:15發(fā)布了行業(yè)資訊

    泰思肯中國祝您元旦吉祥
    愿這個節(jié)日季充滿清晰的洞見、真摯的連接與全新的視角;愿新的一年收獲更多值得分享的發(fā)現(xiàn)。
    153人看過
  • 2025-12-23 19:15發(fā)布了技術(shù)文章

    TESCAN 電鏡質(zhì)譜 FIB-SEM-TOF-SIMS 聯(lián)用系統(tǒng)特點
    TESCAN公司推出的聚焦離子束掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)與飛行時間二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS)聯(lián)用系統(tǒng),則巧妙地將高空間分辨率成像、精細(xì)三維形貌構(gòu)建與表面化學(xué)組分分析深度結(jié)合,為實驗室、科研、檢測及工業(yè)界用戶提供了一種前所未有的多維度原位分析解決方案。
    71人看過
  • 2025-12-23 19:15發(fā)布了技術(shù)文章

    TESCAN 高分辨率三維 X 射線 CT 顯微鏡特點
    傳統(tǒng)的二維成像技術(shù)往往難以捕捉精細(xì)的微觀形貌和內(nèi)部缺陷,而三維X射線計算機斷層掃描(CT)顯微鏡則應(yīng)運而生,成為揭示物質(zhì)內(nèi)部奧秘的強大工具。TESCAN作為行業(yè)內(nèi)的佼佼者,其高分辨率三維X射線CT顯微鏡憑借其的性能和創(chuàng)新的技術(shù),為科研和工業(yè)界提供了前所未有的探測能力。
    81人看過
  • 2025-12-23 19:15發(fā)布了技術(shù)文章

    TESCAN 多分辨率 3D X射線CT顯微成像系統(tǒng)特點
    傳統(tǒng)的三維成像手段在分辨率、穿透深度以及樣品制備方面往往面臨瓶頸。TESCAN公司推出的多分辨率3D X射線CT(計算機斷層掃描)顯微成像系統(tǒng),正是為打破這些局限而生,為研究人員提供了前所未有的精微視界洞察力。
    59人看過
  • 2025-12-23 19:15發(fā)布了技術(shù)文章

    TESCAN 四維 X 射線 CT 顯微鏡特點
    隨著技術(shù)的不斷發(fā)展,二維(2D)成像已逐漸難以滿足日益增長的精細(xì)化需求。四維(4D)X 射線 CT 顯微鏡的出現(xiàn),為我們揭示了材料在時間和空間維度上的動態(tài)演變提供了前所未有的能力,其中,TESCAN 憑借其深厚的技術(shù)積累,推出了性能的四維 X 射線 CT 顯微鏡,在儀器行業(yè)內(nèi)引發(fā)了廣泛關(guān)注。
    64人看過
  • 2025-12-23 19:15發(fā)布了技術(shù)文章

    捷克泰思肯 TESCAN AMBER X 高分辨氙離子源雙束掃描電鏡特點
    捷克TESCAN公司推出的AMBER X型高分辨氙離子源雙束掃描電鏡(FIB-SEM),憑借其的性能和創(chuàng)新的設(shè)計,正成為行業(yè)內(nèi)備受矚目的利器。它集成了高亮度、高穩(wěn)定性的聚焦離子束(FIB)系統(tǒng)和先進的掃描電子顯微鏡(SEM)技術(shù),為用戶提供了前所未有的微觀世界探索能力。
    54人看過
  • 2025-12-23 19:15發(fā)布了技術(shù)文章

    TESCAN CLARA 超高分辨場發(fā)射掃描電鏡特點
    TESCAN CLARA超高分辨場發(fā)射掃描電鏡(FE-SEM)憑借其的成像性能和創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計,為專業(yè)用戶提供了一個前所未有的觀察平臺。本文將從一個儀器編輯的視角,深入剖析CLARA的獨特優(yōu)勢,為廣大實驗室、科研、檢測和工業(yè)從業(yè)者提供專業(yè)參考。
    77人看過
  • 2025-12-23 19:15發(fā)布了技術(shù)文章

    捷克泰思肯 TESCAN SOLARIS X 氙等離子源雙束FIB系統(tǒng)特點
    為了滿足這些嚴(yán)苛的挑戰(zhàn),捷克TESCAN公司傾力打造了SOLARIS X氙等離子源雙束聚焦離子束(FIB)系統(tǒng)。這款集成了先進技術(shù)和精湛工藝的儀器,不僅是實驗室里的得力助手,更是推動科研和工業(yè)進步的關(guān)鍵力量。
    50人看過
  • 2025-12-23 19:15發(fā)布了技術(shù)文章

    TESCAN 集成礦物分析儀系統(tǒng)特點
    TESCAN 集成礦物分析儀系統(tǒng)(Integrated Mineral Analyzer System,簡稱IMA系統(tǒng))憑借其獨特的集成化設(shè)計和先進的分析技術(shù),正成為礦物學(xué)、地質(zhì)學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域從業(yè)者不可或缺的工具。本文將從內(nèi)容編輯的視角,深入剖析TESCAN IMA系統(tǒng)的核心特點,助力您更好地理解和應(yīng)用這一前沿分析平臺。
    81人看過
  • 2025-12-23 19:15發(fā)布了技術(shù)文章

    捷克泰思肯 TESCAN AMBER 鎵離子型雙束掃描電鏡特點
    其AMBER系列鎵離子聚焦顯微鏡(FIB-SEM),憑借獨特的技術(shù)優(yōu)勢,已成為材料科學(xué)、半導(dǎo)體、生命科學(xué)等眾多研究和檢測領(lǐng)域不可或缺的利器。本文將深入探討TESCAN AMBER系列FIB-SEM的核心特點,并結(jié)合具體數(shù)據(jù),闡述其在各行業(yè)中的關(guān)鍵應(yīng)用價值。
    59人看過
  • 2025-12-23 19:15發(fā)布了技術(shù)文章

    TESCAN MAGNA 新一代超高分辨場發(fā)射掃描電鏡特點
    作為高端電鏡領(lǐng)域的佼佼者,TESCAN此次推出的MAGNA系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM),以其的性能和創(chuàng)新的設(shè)計,無疑為廣大實驗室、科研機構(gòu)和工業(yè)界用戶帶來了新的技術(shù)標(biāo)桿。本文將深入剖析MAGNA系列的核心亮點,為各位同行提供一份翔實的參考。
    74人看過
  • 2025-12-23 19:15發(fā)布了技術(shù)文章

    TESCAN MIRA 場發(fā)射定制版掃描電鏡(AMU)特點
    特別是在材料科學(xué)、生命科學(xué)、半導(dǎo)體制造等對微觀結(jié)構(gòu)與成分有極高要求的行業(yè),一臺性能的SEM能夠直接影響研究的深度與產(chǎn)業(yè)的競爭力。TESCAN MIRA 場發(fā)射定制版掃描電鏡(TESCAN MIRA AMU)正是為滿足這些嚴(yán)苛需求而生,它將場發(fā)射電子槍技術(shù)與靈活的系統(tǒng)配置結(jié)合,為用戶帶來前所未有的觀察體驗和分析能力。
    73人看過
  • 2025-12-23 19:15發(fā)布了技術(shù)文章

    捷克泰思肯 TESCAN SOLARIS 新一代超高分辨鎵離子FIB-SEM特點
    聚焦離子束-掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)作為一種強大的納米尺度分析工具,其分辨率和性能的每一次提升,都意味著新的研究可能和工藝改進。捷克TESCAN公司推出的SOLARIS系列,正是新一代鎵離子FIB-SEM的杰出代表,以其突破性的超高分辨能力,重新定義了納米加工和成像的標(biāo)準(zhǔn)。
    58人看過
  • 2025-12-23 19:15發(fā)布了技術(shù)文章

    捷克泰思肯 TESCAN RISE電鏡拉曼一體化顯微鏡特點
    傳統(tǒng)的解決方案往往需要將樣品在掃描電子顯微鏡(SEM)和拉曼光譜儀之間來回轉(zhuǎn)移,這一過程不僅耗時耗力,更可能引入人為誤差,影響分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。捷克泰思肯(TESCAN)推出的RISE電鏡拉曼一體化顯微鏡,則以其創(chuàng)新的設(shè)計理念,將高分辨率的SEM成像能力與強大的拉曼光譜分析功能無縫集成,為科研人員和工程師帶來了前所未有的便利與效率。
    62人看過

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