X射線衍射儀XRD

Aeris 高容量樣品進樣器（HCSC）配備超過60個樣品位，可實現全天候的自動化分析，甚至是夜間分析。

DDCOM 用于超快速晶體取向測量 用于晶體取向測量的臺式 X射線衍射儀 (DDCOM) 是一種用于自動測定各種晶體取向的工具。

用于晶體取向測量的 SDCOM 小型衍射儀 用于單晶（晶錠和晶圓）的材料研究、生產和質量控制的臺式XRD設備。 Si | SiC | 金剛石 | AIN | GaAs | 石英 | LiN...

Wafer XRD用于全自動晶圓揀選、生產和質量控制。

Omega/Theta XRD為測定晶面取向提供了卓越的綜合精度和速度。Omega/Theta XRD可在短短10 秒內返回結果，具有從條形碼閱讀器到晶體堆疊支架的許多工藝附件，可容納重量達 30kg...

XRD 系列 晶圓和鑄錠快速準確的晶向定位 從全自動的在線分析到晶圓材料的快速質量檢查,我們的晶向定位解決方案在設計時考慮到了晶棒、鑄錠、切片和晶圓的全部應用場景。此系列產品利用XRD分析...

X'Pert 平臺在馬爾文帕納科 X 射線衍射系統的新型 X'Pert3 系列中得以延用。 X'Pert3 平臺具有新型機載控制電子裝置，符合X 射線和運動安全規范，且具有環保和可靠性能，已準備好迎接...

作為馬爾文帕納科第三代Empyrean銳影，該多功能X射線衍射儀的“MultiCore”多核光路系統，無需人工干預即可實現多種類的不同測量。 Empyrean 銳影具有在一臺儀器上測量多種類樣品的能力...

Aeris X 射線臺式衍射儀將給您留下深刻印象，數據質量和數據采集速度目前只有在大功率系統上才能實現。 這個小巧的儀器結合了簡單的測量與一步樣品裝載裝置，以及一個直觀簡潔的用戶界面，通過其內置觸摸屏...