隨著納米科技飛速發展,精準的測量技術是推動新材料研發、質量控制以及法規合規的關鍵。國際標準化組織(ISO)發布的 ISO/TR 18196,作為納米技術領域系統化的測量方法選擇指南,為全球科研與產業界提供了至關重要的指導。該標準以技術矩陣的形式,將動態光散射(DLS)、納米顆粒追蹤分析(NTA)、激光衍射等 10 余種技術依據應用場景進行分類,有效解決了“方法選擇難”的行業痛點。本次網絡研討會,我們特別邀請到 BREC Solutions 的總監 Denis KOLTSOV 博士,為大家深度拆解這一標準。
納米技術在材料科學、電池技術、生物醫藥、環境監測等相關行業廣泛應用(圖片由 AI 生成)
作為納米技術表征領域的權威指南,ISO/TR 18196 的技術矩陣究竟如何落地應用?不同測量技術的適用邊界與優劣對比的核心要點又是什么?科研數據與產業質控需求怎樣通過標準實現高效銜接?Denis Koltsov 博士憑借其在納米材料表征領域的豐富經驗,將從標準制定背景、技術矩陣構建邏輯切入,逐一解析各類測量技術的原理、適用場景及實操注意事項。通過一小時的高密度干貨分享,您將快速掌握 ISO/TR 18196 標準的框架,明晰不同測量技術的選擇邏輯,助力科研項目高效推進與企業產品合規升級。
為幫助大家更好地掌握課程內容,本課程配有中英雙語字幕。掃文末二維碼或點擊 “閱讀原文”,即刻了解 ISO/TR 18196 標準指南。
掌握納米測量新標桿:ISO/TR 18196 技術矩陣實用指南
研發科學家與工程師
質控(QC)與質量保證(QA)人員
法規事務專員
學術研究者與實驗室管理者
Denis Koltsov 博士
BREC Solutions 總監
了解如何根據 ISO/TR 18196 優化測量方法。
提升實驗室間數據可比性,增強監管信心。
掌握標準化數據解讀技巧,促進工業界、學術界與監管環境的溝通與合作
動態光散射技術(DLS)
納米顆粒追蹤分析技術(NTA)
BET 比表面積測定
激光衍射法 Zeta 電位
點擊文末“閱讀原文”,或掃下方二維碼,即可報名參與!
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