石英晶體微天平的歷史

在上世紀60年代初期，石英晶體微天平開始發展，其為一種靈敏度十分高的質量檢測儀器，其測量精度能夠達到納克級，高于靈敏度在微克級的電子微天平1000 倍。從理論上來說，能夠測到的質量變化和單分子層或原子層的幾分之一相當。石英晶體微天平通過石英晶體的壓電效應，使石英晶體電極表面質量變化向著石英晶體振蕩電路輸出電信號的頻率變化轉化，從而利用計算機等其他輔助設備使得高精度的數據獲得。

發展歷史

由1880年，壓電效應被居里兄弟發現，到1959年提出Sauerbrey公式。到1980年di一臺能夠進行液相實驗的石英晶體微天平。再到1996年壓電效應理論在實際測量中被應用。翻天覆地的變化和重大的科技革新在石英晶體微天平技術中被發生。在生物材料、藥物研發、環境科學、石油&天然氣、表面清潔劑、涂料等領域越來越多的具有不同功能表面的芯片被應用。用來對表面所發生的吸附、解吸、交聯、溶脹、降解等化學物進行檢測。對AT切割方法進行使用，使得制備的石英晶體芯片優點非常限制，例如溫寬范圍內有著較好的頻率溫度特性，有著較高的壓電活力以及有著較高的頻率。

由于使用多種不同的模塊，使得石英晶體微天平的使用空間非常的廣泛，并且有非常大的可能給能夠和和其他儀器聯用。電化學樣品池通過三電極體系能夠對吸附樣品阻抗等電化學性質的變化進行實時檢測。以橢偏儀原理的橢偏樣品池為基礎，能夠對高分子/蛋白質吸附層的含水量進行精確地測量。窗口池能夠聯用光學顯微鏡，用來對諸如細胞等在芯片表面繁殖的過程進行觀測。而隨著科技發展和科研的需要，會陸續開發出，更多不同功能的反應池模塊。