石英晶體微天平的發展

在上世紀60年代初期，石英晶體微天平開始發展，其為一種靈敏度十分高的質量檢測儀器，其測量精度能夠達到納克級，高于靈敏度在微克級的電子微天平1000 倍。從理論上來說，能夠測到的質量變化和單分子層或原子層的幾分之一相當。石英晶體微天平通過石英晶體的壓電效應，使石英晶體電極表面質量變化向著石英晶體振蕩電路輸出電信號的頻率變化轉化，從而利用計算機等其他輔助設備使得高精度的數據獲得。

發展

石英晶體微天平隨著日新月異的科技的發展也進行了大幅度的更新。并且石英晶體微天平和其他儀器的聯用能夠發揮其特長在更多領域。傳統的石英晶體微天平也能夠進行水相/油相等液相實驗。新式的窗口流動池能夠聯合光學顯微鏡，同時能夠對諸如細胞等在芯片表面繁殖的過程進行觀測。電化學樣品池能夠對吸附樣品阻抗等電化學性質的變化進行實時地檢測。光化學反應實驗能夠通過光學樣品池被應用于石英晶體微天平。以橢偏儀為原理，能夠對吸附層的含水進行精確地測量。

在不同型號和規格的儀器中，石英晶體微天平的其他組成結構也不盡相同，能夠按照測量需要選用或聯用。振蕩線路、頻率計數器、計算機系統等均為一般附屬結構組成。除此以外，如顯示器、打印機等一些輔助輸出設備經常被加裝。