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掃描電鏡

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場發射掃描電鏡的分類及應用

更新時間:2025-10-23 11:52:23 類型:教程說明 閱讀量:8170
導讀:場發射掃描電鏡由電子槍發射電子束,經過一組磁透鏡聚焦聚焦后,用遮蔽孔徑選擇電子束的尺寸后,通過一組控制電子束的掃描線圈,再透過物鏡聚焦,打在樣品上,在樣品的上側裝有訊號接收器,用以擇取二次電子成像。

  場發射掃描電鏡由電子槍發射電子束,經過一組磁透鏡聚焦聚焦后,用遮蔽孔徑選擇電子束的尺寸后,通過一組控制電子束的掃描線圈,再透過物鏡聚焦,打在樣品上,在樣品的上側裝有訊號接收器,用以擇取二次電子或背向散射電子成像。

場發射掃描電鏡是什么

  場發射掃描電鏡是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率,能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理,在鍍膜或不鍍膜的基礎上,低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細胞、微生物以及生物大分子等,獲得忠實原貌的立體感極強的樣品表面超微形貌結構信息。 具有高性能x射線能譜儀,能同時進行樣品表層的微區點線面元素的定性、半定量及定量分析,具有形貌、化學組分綜合分析能力。

掃描電鏡.jpg

場發射掃描電鏡的分類

  冷場發射掃描電鏡Zda的優點為電子束直徑Z小,亮度Zgao,因此影像分辨率Zyou。能量散布Z小,故能改善在低電壓操作的效果。為避免針尖被外來氣體吸附,而降低場發射電流,并使發射電流不穩定,冷場發射式電子槍必需在10^-10torr的真空度下操作,雖然如此,還是需要定時短暫加熱針尖至2500K(此過程叫做flashing),以去除所吸附的氣體原子。它的另一缺點是發射的總電流Z小。

  熱場發射掃描電鏡是在1800K溫度下操作,避免了大部份的氣體分子吸附在針尖表面,所以免除了針尖flashing的需要。熱式能維持較佳的發射電流穩定度,并能在較差的真空度下(10^-9torr)操作。雖然亮度與冷式相類似,但其電子能量散布卻比冷式大3~5倍,影像分辨率較差,通常較不常使用。

冷場發射掃描電鏡和熱場發射掃描電鏡的區別

  一、電子發射源

  熱場發射掃描電鏡在總發射電流、Zda探針電流、電子束噪聲、發射電流漂移、工作真空、陰極還原、對外部影響的敏感性等方面都具有的優勢。這些參數直接影響電鏡的性能,這也是冷場發射掃描電鏡所望塵莫及。

  在陰極半徑、有效電子源半徑、發射電流密度、標準亮度等方面,冷場發射掃描電鏡略勝一籌。這幾個參數總起來說就是冷場發射陰極的面積較小、能量集中,便于將電子束聚焦于一個很小的點,以提高分辨率。但是在現代的電鏡技術條件下,熱場發射掃描電鏡通過采取各種有效措施,也能夠將電子束匯聚于一個理想的點,達到冷場發射掃描電鏡的分辨率水平。

  二、電鏡性能

  1、穩定性

  冷場發射掃描電鏡燈絲會吸附電子槍內的殘留氣體,隨著時間的增長,發射電流越來越不穩定,需要定時(大約8小時一次)進行加熱還原(flash,約需半小時),給使用維護帶來不便。而熱場發射電鏡無此煩惱。

  熱場發射掃描電鏡的發射電流穩定度較好,漂移小于0.5%/h(ZEISS電鏡可達到0.2%/h),而冷場發射則比這要大一個數量級。

  2、Zda探針電流

  熱場發射掃描電鏡探針電流一般可達10nA,而冷場發射掃描電鏡卻要低約1個數量級。

  3、工作真空度

  熱場發射掃描電鏡電子槍所需的工作真空度較低(≤10^-8hPa),比較容易達到,一般只用一級離子泵就可以了。而冷場發射掃描電鏡的工作真空度要高2個數量級,一般要用兩級離子泵,對真空密封等要求苛刻,嬌氣,難以維護。冷場發射電鏡樣品室的真空度要求也較高,這對于不太清潔、含水、含油、有氣體析出的樣品,抽真空就很困難。有多種型號的熱場發射電鏡具有低真空方式,而冷場電鏡難以達到。

掃描電鏡.jpg

場發射掃描電鏡的應用

  場發射掃描電鏡,廣泛用于生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品生產質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及GA刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。

  場發射掃描電鏡的Zda特點是具備超高分辨掃描圖像觀察能力,尤其是采用Zxin數字化圖像處理技術,提供高倍數、高分辨掃描圖像,并能即時打印或存盤輸出,是納米材料粒徑測試和形貌觀察Z有效儀器。也是研究材料結構與性能關系所不可缺少的重要工具。


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