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布魯克原子力顯微鏡Dimension FastScan

面議 (具體成交價以合同協議為準)
德國布魯克 Dimension FastScan 歐洲 德國 2026-02-03 13:41:38
售全國 入駐:11年 等級:銅牌 營業執照已審核
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產品詳情:



為滿足 AFM 使用者對提高 AFM 使用效率的需求,Bruker 開發了這套快速掃描系統,不降低分辨率,不增加設備復雜性,不影響儀器操作成本的前提下,幫助用戶實現了利用 Dimension 快速掃描系統,即時快速得到高分辨高質量AFM圖像的愿望。


當您對樣品進行掃描時,無論設置實驗參數為掃描速度>125Hz,還是在大氣下或者溶液中1秒獲得1張 AFM圖像,都能得到優異的高分辨圖像。快速掃描這一變革性技術重新定義了AFM儀器的操作和功能。


高效率

在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍,自動激光調節和檢測器調節,智能進針,大大縮短了實驗時間。

自動測量軟件和高速掃描系統WM結合,大幅提高了實驗數據 的可信度和可重復性。


高分辨率

FastScan精確的力控制模式提高圖像分辨率的同時,延長了探針的使用壽命。

掃描速度20Hz時仍能獲得高質量的TappingModeTM圖像,掃描速度6Hz仍能獲得高質量的 ScanAsyst 圖像。

低噪音,溫度補償傳感器展現出亞埃級的噪音水平。


在任何樣品上均有好表現

閉環控制的 Icon 和 FastScan 掃描管極大地降低了 Z 方向噪音,使它們 Z 方向的噪音水平分別低于 30pm 和 40 pm,具有極低的熱漂移率,可得到超高分辨的真實圖像。

Fast Scan 可以對不同樣品進行測量,保證高度從埃級到 100 多納米的樣品高精度無失真掃描。


靈活的平臺

Dimension FastScan 展現出性能,堅固性和靈活度,為高質量AFM 成像和納米研究設定了新的標準。Dimension系列原子力顯微鏡在不斷演變提升以迎合您不斷增長的研究需求,并且支持AFM的所有模式和力學、電學和電化學附件。


AFM掃描速度的ZX定義

·采用ZD熱漂移的針尖掃描AFM技術。

·應用新的NanoScope控制器,為機器提供了更高的帶寬。

·采用了低噪音的機械和電子的主要部件,結合高共振頻率X-Y-Z掃描管,在技術上獲得了重大突破。

·Z方向,探針在Contact模式中移動速度可達到12mm/s,在閉環工作中X-Y方向的移動速度達到2.5mm/s,X-Y方向的跟蹤誤差<1%。


fast規格.png

技術資料

  • MultiMode 8 SPM 中文操作手冊
    MultiMode 8 SPM 中文操作手冊——有需要可以聯系上海爾迪儀器科技有限公司

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    1259

  • 原子力顯微鏡MultiMode-8_cn_爾迪儀器
    原子力顯微鏡MultiMode-8中文產品資料

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    979

  • 概述原子力顯微鏡:在薄膜行業中的應用
    原子力顯微鏡是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。Bruker原子力顯微鏡是一種用于材料科學領域的分析儀器,于2015年9月11日啟用。

    上傳人:上海爾迪儀器科技有限公司

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    1009

  • bruker白光干涉儀在光學領域的應用
    白光干涉儀作為一種Z精密的三維形貌測量設備,能準確測量亞納米尺度的表面粗糙度。軟件還能根據各種相關標準,進行表面形貌分析,獲得多種參數,包括波紋度、翹曲等。

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