MiniSIMS ToF飛行時間二次離子質譜儀

MiniSIMS ToF飛行時間二次離子質譜儀在探測未知樣品、研究較小區域的表面特征、從有機樣品中獲取更多信息方面。

性能卓越

探測未知樣品

飛行時間質譜（ToF）的引入使得MiniSIMS的性能躍升到一個新的水平。

MiniSIMS ToF飛行時間二次離子質譜儀對未知樣品的測定與測量已知組分一樣容易，這使得該儀器非常適合研究性應用。在失效分析中，比如污染鑒定，發現的額外細節有助于準確的查明問題的確切原因。

創新的設計使得該儀器使用簡便、結構緊湊。不僅處理功能強大，儀器操作也進一步簡化，在實際分析中，基本不需要操作者的判斷。如果需要的話，可存儲的完整的三維數據可供有經驗的操作者進行進一步評估。

高級分析

MiniSIMS ToF飛行時間二次離子質譜儀可以同時分析各種元素和有機物質，更有效地利用了樣品材料。儀器性能的提高保證了對較小區域特征的全面分析。這種模式下，有機光譜的質量得到了顯著提高。

這種優勢與拓寬的光譜質量范圍相結合，獲得了更多關于有機材料的詳盡信息，便于與數據庫中的譜圖進行對比分析。

MiniSIMS ToF飛行時間二次離子質譜儀同樣能夠區分常規有機物和元素的干擾，使數據更加清晰，檢測限更低。