J200飛秒激光剝蝕進樣系統（LA）

J200飛秒激光剝蝕進樣系統（LA）術可靠性提升到一個新高度，可應用于礦物元素定量分析、鋯石U-Pb定年、礦物熔體和流體包裹體分析、微區同位素分析和定年技術研究等地質研究領域，并在所有采樣點上實現一致的激光剝蝕，這一創新的傳感器特性是由應用光譜公司科學團隊研發的一項技術，具備三種照明模式來提高圖像質量和對比度：擴散式LED光源，透射光和同軸反射光，光的強度和顏色可控。

采樣模式優勢：

系統軟件提供大的視頻窗口，顯示清晰的、詳細的樣品圖像。分析人員可以在樣品圖像上設計任意的激光采樣模式，包括光柵線、曲線、直線、隨機點、任意尺寸網格或預先編制的模式。甚至樣品上具有挑戰性形狀的結構也可以使用Axiom的模式生成工具進行突出顯示，并精確分析元素或同位素含量。

設備優勢：

1、J200飛秒激光進樣系統可與市面上的普通四級桿質譜儀；

2、飛秒激光源技術已經應用于醫療領域；

3、組裝方式簡單，方便對輸氣管道進行定期清理；

4、主要成分分析、包裹體分析、高分辨率深度剖析、元素映射，等等。

J200飛秒激光剝蝕進樣系統（LA）具有直觀友好的圖形用戶界面，可瀏覽不同樣品區域，并建立靈活的激光采樣方案，甚至樣品上具有挑戰性形狀的結構也可以使用Axiom的模式生成工具進行突出顯示，并精確分析元素或同位素含量，然后使用保存的圖像導航不同的樣品位置，觀察高倍放大的選定點，以提供高度自動化的檢測體驗。我們只需“調出”整個方案以重復實驗，或者復制方案的一部分，將其與新的指令結合起來，以解決新的采樣方案。