激光剝蝕進樣系統

美國ASI J200 LA飛秒激光剝蝕進樣系統激光進樣系統與等離子體質譜連用，組成LA-ICP-MS系統，對樣品的元素組成、元素分布進行檢測。可與市面上的普通四級桿質譜儀、飛行時間質譜儀和多接收質譜儀等常見質譜儀聯用。

J200飛秒激光剝蝕進樣系統（LA）術可靠性提升到一個新高度，可應用于礦物元素定量分析、鋯石U-Pb定年、礦物熔體和流體包裹體分析、微區同位素分析和定年技術研究等地質研究領域，并在所有采樣點上實現一致的激光剝蝕，這一創新的傳感器特性是由應用光譜公司科學團隊研發的一項技術，具備三種照明模式來提高圖像質量和對比度：擴散式LED光源，透射光和同軸反射光，光的強度和顏色可控。

J200飛秒激光剝蝕進樣系統是LA-ICP-MS技術向高精度、高準確度、高靈敏度水平發展的重大突破，為了準確定量的分析元素和同位素，需要高精度的、與測量樣品相匹配的標準物質，ICP源的顆粒能完全被消解