開爾文探針掃描系統

掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導電材料的功函或半導體材料表面的表面電勢，表面功函。由材料表面zui頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界zui高分辨率的測試系統。

UHV-KP020 是超高真空室的一個wan美補充工具，可靠的和可重復的可輕松獲得，包括高質量的線性解碼器，使得探針和樣品的定位變得簡單， 無與倫比的跟蹤系統在測試過程中始終將探針和樣品恒定的分開。對于薄膜研究，亞單層范圍檢測是很平常的；也可選購SPV020或SPS030表面光電壓模塊用于光敏材料研究。

RHC020 氣氛控制掃描開爾文探針是控制氣氛檢測樣品的理想解決方案，50x50mm樣品加熱器可將樣品溫度升至100℃，采用先進的電子和硬件系統即時監測控制溫度和濕度變化，附加表面光伏SPV020及表面光電壓譜SPS030模塊，可對光敏感樣品進行強度或波長可變的激發。

單點開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導電材料的功函或半導體材料表面的表面電勢，表面功函。