納米壓痕儀/納米劃痕儀

KLA iMicro 納米壓痕儀可輕松測量硬涂層，薄膜和少量材料。該儀器準確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級測試等多種納米級機械測試。可互換的驅動器能夠提供大的動態范圍的力荷載和位移，使研究人員能夠對軟聚合物到硬質金屬和陶瓷等材料做出詳盡及可重復的測試。模塊化選項適用于各種應用：材料性質分布、特定頻率測試、刮擦和磨損測試以及高溫測試。

KLA iNano 納米壓痕儀可輕松測量薄膜、涂層和少量材料。該儀器準確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級測試等多種納米級機械測試。該儀器的力荷載和位移測量動態范圍很大，因而可以實現從軟聚合物到金屬材料可重復測試。模塊化選項適用于各種應用：材料性質分布、特定頻率測試、刮擦和磨損以及高溫測試。KLA iNano 納米壓痕儀提供了一整套測試擴展選項，包括樣品加熱、連續剛度測量、

KLA公司全系列的力學測試產品均采用電磁驅動原理的加載力激發器， iNano臺式納米壓痕儀。對納米壓痕物理模型和優線性特性的電磁力驅動原理的深刻理解，以及良好的靈敏度的三片式電容傳感器的設計。

透射電鏡多尺度、多視角（明、暗場像，電子衍射， 化學成分）的實驗分析能力，基于透射電子顯微鏡的原位微納米力學實驗儀器。

為了滿足現代材料研究的挑戰，Swift開發了一系列完全可定制的原位拉伸試樣臺。這些拉伸試樣臺適合多種顯微觀測系統，比如掃描電鏡、透射電鏡、光學顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。

NanoFlip產品既可以工作在真空環境下進行各種原位力學測試；也可以直接在大氣環境下測試。NanoFlip可進行硬度和楊氏模量測試、連續剛度測試（CSM）、力學性能譜圖（Mapping）、納米動態力

FT-NMT04納米機械測試系統是一種多功能的原位掃描電鏡/光纖納米壓頭，能夠準確量化材料在微觀和納米尺度上的力學行為。

InSEM HT（高溫）通過在真空環境中單加熱尖端和樣品來測量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM?HT與掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FIB）或立真空室兼容。