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HORIBA Auto SE 橢圓偏振光譜儀

品牌：法國HORIBA JY 型號：AutoSE 產(chǎn)地：歐洲法國

廠商：優(yōu)尼康科技有限公司

簡介：HORIBA Auto SE 橢圓偏振光譜儀是一種新型薄膜測量工具。僅需簡單的幾個按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動完成樣品測量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報告，包括薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、表面粗糙度和薄膜的不均勻性、反射率或透過率。它是用于快速薄膜測量和器件質(zhì)量控制的解決方案。專為薄膜測量設(shè)計，一鍵式操作實現(xiàn)高效率。
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Accurion EP4 成像橢偏儀

品牌：Park原子力顯微鏡型號：Accurion EP4 產(chǎn)地：亞洲韓國

廠商： Park原子力顯微鏡公司
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偏振光譜儀-HORIBA橢圓偏振光譜儀UVISEL Plus

品牌：堀場型號：UVISEL Plus 產(chǎn)地：亞洲日本

廠商： HORIBA（中國）

簡介：UVISEL Plus作為一款高準(zhǔn)確性、高靈敏度、高穩(wěn)定性的經(jīng)典橢偏機型，它采用了PEM 相位調(diào)制技術(shù)，與機械旋轉(zhuǎn)部件技術(shù)相比，能提供更好的穩(wěn)定性和信噪比。光譜范圍從190nm到2100nm。
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HORIBA Auto SE 橢圓偏振光譜儀

品牌：法國HORIBA JY 型號：AutoSE 產(chǎn)地：歐洲法國

廠商：優(yōu)尼康科技有限公司

簡介：HORIBA Auto SE 橢圓偏振光譜儀是一種新型薄膜測量工具。僅需簡單的幾個按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動完成樣品測量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報告，包括薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、表面粗糙度和薄膜的不均勻性、反射率或透過率。它是用于快速薄膜測量和器件質(zhì)量控制的解決方案。專為薄膜測量設(shè)計，一鍵式操作實現(xiàn)高效率。
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Film Sense FS-8 多波長橢偏儀

品牌：美國Film Sense 型號：FS-8 產(chǎn)地：美洲美國

廠商：優(yōu)尼康科技有限公司

簡介：第四代FilmSense FS-8 多波長橢偏儀使用長壽命的LED光源和無移動部件的橢圓偏振探測器。在便攜的緊湊型系統(tǒng)中提供快速而可靠的薄膜測量。通過簡單的1秒測量，可以以很高的精度和準(zhǔn)確度測定大多數(shù)透明薄膜的薄膜厚度和折射率，并對樣品進(jìn)行光學(xué)常數(shù)、n&k值等薄膜性質(zhì)的測量。
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Accurion EP4 成像橢偏儀

品牌：Park原子力顯微鏡型號：Accurion EP4 產(chǎn)地：亞洲韓國

廠商： Park原子力顯微鏡公司
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Bruker FilmTek CD橢偏儀

品牌：德國布魯克型號： FilmTek CD 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：上海爾迪儀器科技有限公司

簡介：FilmTekTM CD光學(xué)臨界尺寸系統(tǒng)是我們解決方案，可用于1x nm設(shè)計節(jié)點及更高級別的全自動化、高通量CD測量和高級薄膜分析。該系統(tǒng)同時提供已知和完全未知結(jié)構(gòu)的實時多層堆疊特性和CD測量。 FilmTek CD利用多模測量技術(shù)來滿足與開發(fā)和生產(chǎn)中復(fù)雜的半導(dǎo)體設(shè)計特征相關(guān)的挑戰(zhàn)性需求。這項技術(shù)能夠測量極小的線寬，在低于10納米的范圍內(nèi)進(jìn)行高精度測量。
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Bruker 橢偏儀 FilmTek 2000M TSV

品牌：德國布魯克型號：FilmTek 2000M TSV 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：上海爾迪儀器科技有限公司

簡介：FilmTek? 2000M TSV計量系統(tǒng)為半導(dǎo)體封裝應(yīng)用提供了速度和精度組合。該系統(tǒng)為各種封裝工藝和相關(guān)結(jié)構(gòu)的高通量測量提供了測量性能和精度，包括表征抗蝕劑厚度、硅通孔（TSV）、銅柱、凸塊和再分布層（RDL）。
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HORIBA UVISEL Plus 橢圓偏振光譜儀

品牌：日本堀場型號：UVISEL Plus 產(chǎn)地：亞洲日本

廠商：優(yōu)尼康科技有限公司

簡介：HORIBA UVISEL Plus 相位調(diào)制型橢圓偏振光譜儀基于新版的電子設(shè)備，數(shù)據(jù)處理和高速單色儀，F(xiàn)astacq技術(shù)能夠為用戶提供高分辨及快速的數(shù)據(jù)采集。FastAcq為薄膜表征特殊設(shè)計，雙調(diào)制技術(shù)使您可以獲得完整的測試結(jié)果。相位調(diào)制與消色差光學(xué)設(shè)計的結(jié)合提供了特別的膜厚測試效果。配備雙單色儀系統(tǒng)的特殊設(shè)計滿足用戶的期望值，通過模塊化的設(shè)計，更多的附件選擇，使得儀器使用能變得靈活。
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HORIBA Smart SE 橢圓偏振光譜儀

品牌：法國HORIBA JY 型號：Smart SE 產(chǎn)地：歐洲法國

廠商：優(yōu)尼康科技有限公司

簡介：HORIBA Smart SE 橢圓偏振光譜儀是一種薄膜測量工具。僅需簡單的幾個按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動完成樣品測量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報告，包括薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、表面粗糙度和薄膜的不均勻性、反射率或透過率。它是用于快速薄膜測量和器件質(zhì)量控制的解決方案。為薄膜測量設(shè)計，一鍵式操作。
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Accurion EP4 成像橢偏儀

品牌：Park原子力顯微鏡型號：Accurion EP4 產(chǎn)地：亞洲韓國

廠商： Park原子力顯微鏡公司
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光譜橢偏儀

品牌：沈陽科晶型號：SE-Glass 產(chǎn)地：遼寧沈陽

廠商：沈陽科晶自動化設(shè)備有限公司
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光譜橢偏儀

品牌：沈陽科晶型號：SE-Mapping 產(chǎn)地：遼寧沈陽

廠商：沈陽科晶自動化設(shè)備有限公司
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光譜橢偏儀

品牌：沈陽科晶型號：SE-L 產(chǎn)地：遼寧沈陽

廠商：沈陽科晶自動化設(shè)備有限公司
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光譜橢偏儀

品牌：沈陽科晶型號：SE-VE 產(chǎn)地：遼寧沈陽

廠商：沈陽科晶自動化設(shè)備有限公司
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光譜橢偏儀

品牌：沈陽科晶型號：SE-VM 產(chǎn)地：遼寧沈陽

廠商：沈陽科晶自動化設(shè)備有限公司
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全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀

品牌：沈陽科晶型號：ME-L 產(chǎn)地：遼寧沈陽

廠商：沈陽科晶自動化設(shè)備有限公司
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激光橢偏儀SE 400adv PV

品牌：德國Sentech 型號：SE 400adv PV 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

簡介：激光橢偏儀SE 400adv PV,是全球化使用的標(biāo)準(zhǔn)儀器，用于測量PV單層防反射涂層的厚度和折射率指數(shù)。特別用于表征單晶和多晶硅太陽能電池上的SiNx 防反射單層膜的性能。該儀器用于SiNx涂層和薄鈍化層SiO2和Al2O3的質(zhì)量控制。
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光譜橢偏儀SE 800 PV

品牌：德國Sentech 型號：SE 800 PV 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

簡介：光譜橢偏儀SE 800 PV是分析結(jié)晶和多晶硅太陽能電池防反射膜的理想工具。可以測量單層薄膜(SiNx、SiO2、TiO2、Al2O3)和多層疊層膜(SiNX/SiO2、SiNx1/SiNx2、SiNx/Al2O3)。
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激光橢偏儀SE 500adv

品牌：德國Sentech 型號：SE 500adv 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

簡介：激光橢偏儀SE 500adv，結(jié)合橢偏反射CER的SE 500adv 橢偏儀SE 500adv將激光橢偏儀和反射儀結(jié)合在一個系統(tǒng)中。這種組合允許零度反射法用于快速薄膜分析，并且允許透明膜以激光橢偏儀的亞埃精度將可測量的厚度范圍擴展到25埃米，從而明確地確定厚度。
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德國Sentech激光橢偏儀SE 400adv

品牌：德國Sentech 型號：SE 400adv 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

簡介：德國Sentech激光橢偏儀SE 400adv, 測量透明薄膜的厚度和折射率指數(shù)，具有測量速度、亞埃級別的厚度精度和折射率測定的精度。多角度測量允許使用激光橢偏儀SE 400adv表征吸收膜特征。
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SENDURO 全自動光譜橢偏儀

品牌：德國Sentech 型號：SENDURO 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

簡介：SENDURO 全自動光譜橢偏儀包括基于測量的僅在幾秒鐘內(nèi)即可完成的快速數(shù)據(jù)分析。橢圓儀的設(shè)計是為了便于操作：放置樣品，自動樣品對準(zhǔn)，自動測量和分析結(jié)果。在全自動模式下使用光譜橢偏儀非常適合于質(zhì)量控制和研發(fā)中的常規(guī)應(yīng)用。
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德國Sentech紅外光譜橢偏儀SENDIRA

品牌：德國Sentech 型號：SENDIRA 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

簡介：SENDIRA紅外光譜橢偏儀,振動光譜的特點是傅立葉紅外光譜儀FTIR。測量紅外分子振動模的吸收譜帶，分析長分子鏈的走向和薄膜的組成。紅外光譜橢偏儀適用于測量導(dǎo)電膜的電荷載流子濃度。
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光譜橢偏儀SENpro

品牌：德國Sentech 型號：SENpro 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

簡介：德國 Sentech 低成本GX益的光譜橢偏儀SENpro,SENpro橢偏儀是橢偏儀應(yīng)用的智能解決方案。它具有角度計，入射角度步進(jìn)值5°。操作簡單，快速測量和直觀的數(shù)據(jù)分析相結(jié)合，以低成本效益高的設(shè)計來測量單層和多層膜的厚度和光學(xué)常數(shù)。
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SENresearch 4.0 擁有寬光譜范圍的光譜橢偏儀

品牌：德國Sentech 型號：SENresearch 4.0 產(chǎn)地：歐洲德國

廠商：深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

簡介：SENresearch 4.0:擁有寬光譜范圍的光譜橢偏儀，在寬的光譜范圍從190nm（深紫外）到3,500 nm（近紅外）。每一臺SENresearch 4.0都是客戶特定的橢偏光譜解決方案。SENresearch 4.0可以配置用于全穆勒矩陣、各向異性、廣義橢偏、散射測量等。使用步進(jìn)掃描分析器原理實現(xiàn)測量結(jié)果。
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EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）

品牌：賽凡型號：EM12-PV 產(chǎn)地：北京

廠商：北京賽凡光電儀器有限公司
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FS-1FilmSense多波段橢偏儀

品牌：美國Film Sense 型號：FS-1 產(chǎn)地：美洲美國

廠商：岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司

簡介：FilmSense多波段橢偏儀可通過橢偏參數(shù)、透射/反射率等參數(shù)的測量，快速實現(xiàn)光學(xué)參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析,適用于薄膜材料的快速測量表征。

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深圳浦東雄安YOLO橢偏儀價格本公司堯零智能儀器根據(jù)教學(xué)大綱要求自主研發(fā)的固定波長激光橢圓偏振儀用于大學(xué)近代物理實驗，儀器集光、機、電于一體，操作簡單，性能穩(wěn)定，可無接觸、無損傷精確測定超薄薄膜厚度。; 智能型多功能橢偏儀 Smart SE; 在線橢偏儀 In-situ series; 一鍵式全自動快速橢偏儀 Auto SE; 研究級經(jīng)典型橢偏儀 UVISEL; 美國AST橢偏儀; 美國Gaertner激光型橢偏儀,STOKES Ellipsometer
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