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2024-12-27 17:18:06?掩膜直寫光刻系統
無掩膜直寫光刻系統是一種先進的半導體制造設備，它采用激光直寫技術，無需傳統光刻中的掩膜板，可直接將設計圖案寫入硅片表面。該系統具有高精度、高效率、低成本及靈活性強等優勢，能夠快速適應產品設計的變更，縮短研發周期。它廣泛應用于集成電路、微納電子、光電子等領域，是實現芯片小型化、集成化、個性化的關鍵技術之一。通過無掩膜直寫，可大幅提升光刻工藝的靈活性和生產效率。

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2023-06-14 16:49:45無掩膜直寫光刻系統助力二維材料異質結構電輸運性能研究，意大利
期刊：ACS NanoIF：18.027文章鏈接: https://doi.org/10.1021/acsnano.1c09131 【引言】      MoS2是一種典型的二維材料，也是電子器件的重要組成部分。研究者發現，當MoS2與石墨烯接觸會產生van der Waals作用，使之具有良好的電學特性，可廣泛應用于各類柔性電子器件、光電器件、傳感器件的研究。然而，MoS2-石墨烯異質結構背后的電輸運機理尚不明確。這主要是因為傳統器件只有兩個接觸點，不能將MoS2-石墨烯異質結構產生的電學輸運特性與二維材料自身的電學特性所區分。此外，電荷轉移、應變、電荷在缺陷處被俘獲等因素也會對器件的電輸運性能產生影響，進一步提高了相關研究的難度。盡管已有很多文獻報道MoS2-石墨烯異質結構的電輸運性能，但這些研究主要基于理論計算，缺乏對MoS2-石墨烯異質結構的電輸運性能在場效應器件中的實驗研究。 【成果簡介】     2021年，意大利比薩大學Ciampalini教授課題組利用小型臺式無掩膜直寫光刻系統- MicroWriter ML3 制備出基于MoS2-石墨烯異質結構的多場效應管器件，在場效應管器件中直接測量了MoS2-石墨烯異質結構的電輸運特性。通過比較MoS2的跨導曲線和石墨烯的電流電壓特性，發現在n通道的跨導輸運被抑制，這一現象明顯不同于傳統對場效應的認知。借助第一性原理計算發現這一獨特的輸運抑制現象與硫空位相關。     本文中所使用的小型臺式無掩膜直寫光刻系統- MicroWriter ML3無需掩膜版，可在光刻膠上直接曝光繪出所要的圖案。設備采用集成化設計，全自動控制，可靠性高，操作簡便，同時其還具備結構緊湊（70cm X 70cm X 70cm）、高直寫速度，高分辨率（XY：
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2023-06-29 10:11:54無掩膜直寫光刻系統助力二維材料異質結構電輸運性能研究，意大利科學家揭秘其機理！
期刊：ACS NanoIF：18.027文章鏈接: https://doi.org/10.1021/acsnano.1c09131引言MoS2是一種典型的二維材料，也是電子器件的重要組成部分。研究者發現，當MoS2與石墨烯接觸會產生van der Waals作用，使之具有良好的電學特性，可廣泛應用于各類柔性電子器件、光電器件、傳感器件的研究。然而，MoS2-石墨烯異質結構背后的電輸運機理尚不明確。這主要是因為傳統器件只有兩個接觸點，不能將MoS2-石墨烯異質結構產生的電學輸運特性與二維材料自身的電學特性所區分。此外，電荷轉移、應變、電荷在缺陷處被俘獲等因素也會對器件的電輸運性能產生影響，進一步提高了相關研究的難度。盡管已有很多文獻報道MoS2-石墨烯異質結構的電輸運性能，但這些研究主要基于理論計算，缺乏對MoS2-石墨烯異質結構的電輸運性能在場效應器件中的實驗研究。成果簡介2021年，意大利比薩大學Ciampalini教授課題組利用小型臺式無掩膜直寫光刻系統- MicroWriter ML3 制備出基于MoS2-石墨烯異質結構的多場效應管器件，在場效應管器件中直接測量了MoS2-石墨烯異質結構的電輸運特性。通過比較MoS2的跨導曲線和石墨烯的電流電壓特性，發現在n通道的跨導輸運被抑 制，這一現象明顯不同于傳統對場效應的認知。借助第 一性原理計算發現這一獨特的輸運抑 制現象與硫空位相關。本文中所使用的小型臺式無掩膜直寫光刻系統- MicroWriter ML3無需掩膜版，可在光刻膠上直接曝光繪出所要的圖案。設備采用集成化設計，全自動控制，可靠性高，操作簡便，同時其還具備結構緊湊（70cm X 70cm X 70cm）、高直寫速度，高分辨率（XY：
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2019-10-18 10:47:51小型無掩膜光刻直寫系統（MicroWriter）
    小型臺式無掩膜光刻直寫系統（MicroWriter ML3）是英國Durham Magneto Optics公司專為實驗室設計開發，為微流控、MEMS、半導體、自旋電子學等研究領域提供方便GX的微加工方案。傳統的光刻工藝中所使用的鉻玻璃掩膜板需要由專業供應商提供，但是在研發環境中，掩膜板的設計通常需要經常改變。無掩膜光刻技術通過以軟件設計電子掩膜板的方法，克服了這一問題。與通過物理掩膜板進行光照的傳統工藝不同，激光直寫是通過電腦控制DMD微鏡矩陣開關，經過光學系統調制，在光刻膠上直接曝光繪出所要的圖案。同時其還具備結構緊湊（70cm X 70cm X 70cm）、高直寫速度，高分辨率（XY：圖8. CsPbBr3 PNC/monolayer MoS2異質結光電器件的制備流程，紅色框所示為利用無掩膜激光直寫系統（MicroWriter）所制備電極結構示意 圖9. （左）利用MicroWriter制備的MoS2基器件的I-V特性曲線，其中所示單層MoS2形貌及表面電極；（右）MicroWriter虛擬掩膜功能（VMA）結果示意
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2025-01-09 12:45:13玻璃膜熱傳導測試儀怎么用
玻璃膜熱傳導測試儀怎么用：全面解析與操作指南 玻璃膜熱傳導測試儀是一種專業的測量設備，廣泛應用于玻璃材料以及其他薄膜材料的熱傳導性能測試。隨著科技的不斷發展，玻璃膜在建筑、汽車、電子產品等領域得到了越來越廣泛的應用。為了確保其在不同環境下的表現，測試其熱傳導性能成為了至關重要的一環。本文將詳細介紹玻璃膜熱傳導測試儀的使用方法，幫助您理解如何正確操作這一設備，以獲得準確的測試結果。 玻璃膜熱傳導測試儀的基本結構與原理 玻璃膜熱傳導測試儀的主要功能是測定薄膜材料的熱導率。它通常由溫度傳感器、加熱裝置、數據采集系統等幾個部分組成。測試原理基于熱傳導的基本定律，通過加熱玻璃膜的一個表面，監測另一表面的溫度變化，進而計算出熱導率。設備的準確性和穩定性是保證測試結果可靠性的關鍵因素。 如何使用玻璃膜熱傳導測試儀 準備工作 在使用玻璃膜熱傳導測試儀之前，首先要確認設備的校準情況。確保傳感器、加熱模塊和數據采集系統正常工作。然后，選擇合適的玻璃膜樣品，清潔其表面以避免污染物影響測試結果。 安裝樣品 將玻璃膜樣品安裝在測試儀的測試平臺上。樣品的位置需要固定，避免在測試過程中發生位移。通常測試儀會提供一對加熱和冷卻設備，用于模擬不同的溫度差，確保熱量傳導的測試環境準確。 設置測試參數 根據需要測試的材料和實驗條件，設置相應的測試參數。這包括設定初始溫度、加熱時間、溫度梯度等。在設置過程中要特別注意溫度的均勻性，以確保測試結果的準確性。 啟動測試 啟動測試程序后，測試儀將開始加熱樣品，并實時監控另一側的溫度變化。根據測試儀的類型，數據可能會實時顯示在設備的屏幕上，或者通過軟件進行記錄。部分高端設備還提供自動分析功能，直接給出熱導率的數值。 數據分析與結果輸出 測試完成后，可以通過設備的內置軟件對數據進行進一步分析。通常，熱導率的結果會以數值的形式輸出，您可以根據這些數據評估玻璃膜的熱導性能。部分設備還會生成測試報告，方便存檔和對比分析。 玻璃膜熱傳導測試的注意事項 在使用玻璃膜熱傳導測試儀時，有幾個關鍵的注意事項需要特別關注： 樣品選擇：確保樣品的厚度和表面狀況符合測試要求。表面不平整或有氣泡的樣品可能導致誤差。 環境溫度：測試過程中，環境溫度的變化可能影響測試結果，最好在穩定的環境下進行測試。 設備校準：定期對測試儀進行校準，確保測試數據的準確性。 結論 玻璃膜熱傳導測試儀在現代工業中具有重要的應用價值，能夠精確評估玻璃膜等薄膜材料的熱傳導性能。正確使用該設備，不僅能夠提高測試效率，還能為材料性能優化提供科學依據。掌握設備的使用方法和操作技巧，對于專業人員在進行熱傳導測試時至關重要。
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2025-03-11 13:30:14膜片式壓力表參數有哪些？
膜片式壓力表參數 膜片式壓力表是一種常見的壓力測量儀器，廣泛應用于工業、化工、食品加工等多個領域。其通過測量膜片的變形來判斷被測介質的壓力大小。為了確保膜片式壓力表的準確性與穩定性，選擇合適的參數至關重要。本文將詳細介紹膜片式壓力表的關鍵參數及其對測量結果的影響，幫助用戶在實際應用中做出科學合理的選擇。 一、膜片式壓力表的工作原理與特點 膜片式壓力表的核心部分是一個彈性膜片，這個膜片安裝在壓力表的測量腔內，當外部壓力作用于膜片時，膜片會發生一定的變形。這個變形通過杠桿機構轉換成機械指針的位移，顯示在表盤上。膜片式壓力表具有響應靈敏、結構簡單、適應性強等特點，尤其適用于低壓、密閉環境下的壓力測量。 二、膜片式壓力表的主要參數 量程范圍 量程是壓力表基本的參數之一，表示壓力表能夠測量的壓力范圍。膜片式壓力表的量程通常從幾百Pa到數百兆帕不等。用戶在選擇時需要根據實際測量的壓力范圍選擇合適的量程，過大的量程可能導致測量誤差，過小的量程可能導致無法承受較高壓力。 精度等級 精度等級是評定壓力表測量精度的重要指標。一般情況下，膜片式壓力表的精度等級為1.0、1.6、2.5等，精度等級越小，表示壓力表的測量誤差越小。選購時，應根據實際測量要求和精度需求來選擇適合的精度等級。 接液材料 膜片式壓力表的接液部分直接與被測介質接觸，因此接液材料的選擇非常關鍵。常見的接液材料有不銹鋼、銅合金、鋁合金等。對于腐蝕性較強的介質，應選擇耐腐蝕性較好的材料，確保長期使用中的穩定性和準確性。 工作溫度 膜片式壓力表的工作溫度范圍通常在-20℃至+60℃之間，但具體范圍可能會根據不同型號有所不同。過高或過低的溫度會影響膜片的變形程度，進而影響測量精度。因此，在極端溫度環境下使用時，必須選擇具有特殊耐溫性能的膜片式壓力表。 連接方式 膜片式壓力表的連接方式可以分為多種類型，如螺紋連接、法蘭連接等。選擇合適的連接方式需要考慮安裝環境和介質的特點。例如，在高溫高壓環境下，法蘭連接通常更為牢固可靠。 三、膜片式壓力表的應用與選擇要點 在實際應用中，膜片式壓力表廣泛用于測量液體、氣體等介質的壓力。其設計適應性強，特別適合用于具有低壓、脈動壓力、低粘度等特性的介質測量。選擇膜片式壓力表時，首先要根據測量介質的特性、工作環境的溫度及壓力范圍來確定合適的參數，并且確保壓力表的精度和穩定性能夠滿足生產需求。 四、結論 膜片式壓力表作為一種重要的壓力測量工具，其參數的選擇直接影響到測量結果的準確性與穩定性。在選擇時，必須充分考慮量程、精度、接液材料、工作溫度等因素。通過科學合理的選擇，可以確保膜片式壓力表在實際應用中的佳性能。
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